公开(公告)号：CN101750033A

公开(公告)日：2010-06-23

申请号：CN200910258041.X

申请日：2009-12-16

Applicant: 株式会社石田

Inventor： 津野正雄 ,  宫崎清司 ,  山本慎也 ,  山元康司 ,  山本康博 ,  松村彻二 ,  片山兴二

IPC: G01B15/04 ,  G01N23/04 ,  G01N23/18 ,  B07C5/34

CPC classification number: A01K43/08 ,  B07C5/346 ,  G01G9/005 ,  G01G11/00 ,  G01N23/04 ,  G01N33/08 ,  G01N2223/618 ,  G01N2223/643

Abstract: 一种X射线检查装置，其具备X射线照射部、X射线检测部、质量推断部和质量级别判定部。X射线照射部对检查对象物照射X射线。X射线检测部检测从X射线照射部照射的、透过检查对象物的X射线。质量推断部根据X射线检测部检测出的X射线量推断检查对象物的质量。质量级别判定部判断由质量推断部推断出的检查对象物的质量属于预先设定范围内的质量级别中的哪个级别。