公开(公告)号：CN113841083A

公开(公告)日：2021-12-24

申请号：CN202080036418.1

申请日：2020-03-09

Applicant: 株式会社LG化学

Inventor： 柳在一 ,  南泽根 ,  刘济赫

IPC: G02F1/13 ,  G02F1/1335

Abstract: 本申请涉及偏光板的液晶污点检查装置和偏光板的液晶污点检查方法，并且特征在于，从表面光源施加的光透射通过第一偏振构件并在偏光板处被反射，反射的光被施加至第二偏振构件，并基于透射通过第二偏振构件的光来确定偏光板中的液晶污点，其中所述偏光板按顺序包括偏振器和四分之一波片，所述四分之一波片包括液晶膜，以及透射通过第一偏振构件的光被施加至偏光板的四分之一波片。

公开(公告)号：CN113631365A

公开(公告)日：2021-11-09

申请号：CN202080023601.8

申请日：2020-01-31

Applicant: 株式会社LG化学

Inventor： 申娜英 ,  罗钧日 ,  柳在一 ,  朴承奎 ,  金志映 ,  金俞庚

IPC: B32B7/023 ,  B32B3/26 ,  B32B27/30 ,  B32B27/08 ,  B32B7/12 ,  G02B5/30

Abstract: 本申请涉及光学层合体或抗变红层。本申请可以提供即使当在极其苛刻的条件(例如，非常高的温度条件)下驱动或保持时也不会引起所谓的变红现象的光学层合体，或者施加于其的抗变红层。

公开(公告)号：CN113841083B

公开(公告)日：2024-09-03

申请号：CN202080036418.1

申请日：2020-03-09

Applicant: 株式会社LG化学

Inventor： 柳在一 ,  南泽根 ,  刘济赫

IPC: G02F1/13 ,  G02F1/1335

Abstract: 本申请涉及偏光板的液晶污点检查装置和偏光板的液晶污点检查方法，并且特征在于，从表面光源施加的光透射通过第一偏振构件并在偏光板处被反射，反射的光被施加至第二偏振构件，并基于透射通过第二偏振构件的光来确定偏光板中的液晶污点，其中所述偏光板按顺序包括偏振器和四分之一波片，所述四分之一波片包括液晶膜，以及透射通过第一偏振构件的光被施加至偏光板的四分之一波片。

公开(公告)号：CN106716194A

公开(公告)日：2017-05-24

申请号：CN201580052217.X

申请日：2015-09-21

Applicant: 株式会社LG化学

Inventor： 柳在一 ,  张应镇 ,  朴振勇 ,  李应淇 ,  姜炯求 ,  南泽根 ,  朴德雨 ,  金暎坤 ,  金然洙 ,  金俞庚

IPC: G02B5/30 ,  B32B27/30

CPC classification number: G02B5/3025 ,  B29C55/005 ,  B29C55/02 ,  B29D11/00644 ,  B29K2029/04 ,  B32B27/30 ,  B32B2307/42 ,  C08J5/18 ,  C08J2329/04 ,  C09B67/0079 ,  C09B67/0097 ,  G02B1/14 ,  G02B5/3033

Abstract: 本发明涉及用于制造起偏器的方法以及使用所述方法制造的起偏器，所述方法包括：a)将基于聚乙烯醇的膜浸没在包含吸收波长为300nm至550nm的基于偶氮的染料的水溶液中并使其溶胀；b)用基于碘的染料对经溶胀的基于聚乙烯醇的膜进行染色；以及c)拉伸经染色的基于聚乙烯醇的膜。