镀膜附着力测量方法及测量装置

    公开(公告)号:CN101865858B

    公开(公告)日:2012-11-21

    申请号:CN200910132810.1

    申请日:2009-04-20

    Inventor: 宋君

    Abstract: 本发明公开了一种镀膜附着力测量方法及测量装置,该测量方法用于区分由标准测试板得到的测试样板上的基体和膜层,其包括以下步骤:步骤S1.对所述测试样板进行取样,得到静态图像;步骤S2.对所述静态图像进行二值化处理,得到二值化图像,用以区分所述基体和所述膜层;以及步骤S3.计算所述基体的面积与所述测试样板的面积的比值。该测量装置用于区分由标准测试板得到的测试样板上的基体和膜层,其包括:图像采集单元、二值化处理单元和计算单元。本发明可以缩短检测时间、降低检测人员的检测难度;再者,整个判断过程无需检测人员进行人工干预,也无需进行肉眼凭借经验观测,提高了检测精准度。

    镀膜附着力测量方法及测量装置

    公开(公告)号:CN101865858A

    公开(公告)日:2010-10-20

    申请号:CN200910132810.1

    申请日:2009-04-20

    Inventor: 宋君

    Abstract: 本发明公开了一种镀膜附着力测量方法及测量装置,该测量方法用于区分由标准测试板得到的测试样板上的基体和膜层,其包括以下步骤:步骤S1.对所述测试样板进行取样,得到静态图像;步骤S2.对所述静态图像进行二值化处理,得到二值化图像,用以区分所述基体和所述膜层;以及步骤S3.计算所述基体的面积与所述测试样板的面积的比值。该测量装置用于区分由标准测试板得到的测试样板上的基体和膜层,其包括:图像采集单元、二值化处理单元和计算单元。本发明可以缩短检测时间、降低检测人员的检测难度;再者,整个判断过程无需检测人员进行人工干预,也无需进行肉眼凭借经验观测,提高了检测精准度。

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