用于具有静电放电保护的MOSFET的方法、装置及系统

    公开(公告)号:CN107393916A

    公开(公告)日:2017-11-24

    申请号:CN201710256857.3

    申请日:2017-04-19

    Abstract: 本发明涉及用于具有静电放电保护的MOSFET的方法、装置及系统,其方法、装置及系统涉及抗静电放电的MOSFET,尤其涉及半导体装置。该半导体装置包括:包括栅极、源极及漏极的场效应晶体管(FET),该栅极、源极及漏极全部沿第一方向彼此平行延伸;至少一个源极静电放电(ESD)保护电路;源极端子,设于该至少一个源极静电放电保护电路上方并与其电性接触,其中,该源极端子沿该第一方向延伸;至少一个漏极静电放电保护电路;以及漏极端子,设于该至少一个漏极静电放电保护电路上方并与其电性接触,其中,该漏极端子沿该第一方向延伸。

    用于具有静电放电保护的MOSFET的方法、装置及系统

    公开(公告)号:CN107393916B

    公开(公告)日:2021-01-05

    申请号:CN201710256857.3

    申请日:2017-04-19

    Abstract: 本发明涉及用于具有静电放电保护的MOSFET的方法、装置及系统,其方法、装置及系统涉及抗静电放电的MOSFET,尤其涉及半导体装置。该半导体装置包括:包括栅极、源极及漏极的场效应晶体管(FET),该栅极、源极及漏极全部沿第一方向彼此平行延伸;至少一个源极静电放电(ESD)保护电路;源极端子,设于该至少一个源极静电放电保护电路上方并与其电性接触,其中,该源极端子沿该第一方向延伸;至少一个漏极静电放电保护电路;以及漏极端子,设于该至少一个漏极静电放电保护电路上方并与其电性接触,其中,该漏极端子沿该第一方向延伸。

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