公开(公告)号：CN102870189A

公开(公告)日：2013-01-09

申请号：CN201180009961.3

申请日：2011-03-22

Applicant: 欣雷系统公司

Inventor： 弗兰克·斯普瑞恩格 ,  莫里茨·贝克曼 ,  程远 ,  休曼·扎法瑞

IPC: H01J35/06 ,  H01J35/14 ,  H01J35/04 ,  H05G1/30

CPC classification number: H01J35/065 ,  A61B6/4028 ,  A61B6/4064 ,  H01J35/04 ,  H01J35/14 ,  H01J2201/30469 ,  H01J2235/062 ,  H01J2235/068 ,  H05G1/30

Abstract: 多波束场致发射X-射线系统和相关方法，该系统包括阴极元件、与所述多个阴极元件相隔开的阳极组件，以及位于多个阴极元件和阳极组件之间的萃取门。该方法包括：在萃取门和至少其中一个阴极元件之间应用电位差，可使得各个阴极元件来发射电子；测量阴极元件的发射特性，并根据所测发射特性，调节萃取门和至少其中一个阴极元件之间的电位差。

公开(公告)号：CN104094138A

公开(公告)日：2014-10-08

申请号：CN201280057024.X

申请日：2012-11-21

Applicant: 欣雷系统公司

Inventor： 莫里茨·贝克曼 ,  弗兰克·施普伦格 ,  程远 ,  卢健平 ,  德尔克·斯普隆克 ,  乔治·扎鲁尔 ,  周子刚

IPC: G01V5/00 ,  G01N23/02

Abstract: 本主题涉及用于物体的X射线检查的检查系统、设备和方法。传送机可以沿行进方向移动待被检查的物体通过检查区；一个或多个多射束X射线源阵列可以提供多个准直的X射线束沿大致垂直于行进方向的方向通过检查区；以及一个或多个X射线检测器阵列可以检测从X射线源阵列通过检查区的X射线束。可以记录由X射线检测器阵列所检测的X射线信号以形成物体的多个X射线投影图像，且可以将多个X射线投影图像处理成物体的三维断层摄影图像。