公开(公告)号：CN110058249A

公开(公告)日：2019-07-26

申请号：CN201811194957.9

申请日：2018-10-15

Applicant: 欧姆龙株式会社

Inventor： 梶井阳介 ,  的场贤一 ,  近藤智则

IPC: G01S17/08 ,  G01B11/02

Abstract: 本发明提供一种光学测量装置及光学测量方法，可容易地去除在对象物的一部分中所测量的距离中可能产生的噪声。光学测量装置(100)具备：光源(10)，发出光；光接收部(40)，检测由对象物(TA)反射的反射光的光接收量；测量部(51)，根据反射光的光接收量，测量从光学测量装置(100)至对象物(TA)为止的距离；以及检测部(52)，检测反射光的每单位时间的光接收量小于阀值的对象物(TA)的一部分。

公开(公告)号：CN112639392B

公开(公告)日：2022-09-20

申请号：CN201980057874.1

申请日：2019-12-26

Applicant: 欧姆龙株式会社

Inventor： 梶井阳介 ,  近藤智则

IPC: G01B11/00

Abstract: 本发明提供一种光学测量装置及光学测量方法，可在不针对每个测量条件设定阈值的情况下判定在测量值中可能产生的噪声的有无。一种光学测量装置(100)，基于由对象物(TA)反射的反射光的光接收量来获得测量值，且包括：设定部(52)，基于与光学测量装置(100)的光量相关的特性信息，设定相对于反射光的每单位时间的光接收量的阈值；以及判定部(53)，基于阈值来判定测量值的噪声的有无。

公开(公告)号：CN110058249B

公开(公告)日：2023-09-15

申请号：CN201811194957.9

申请日：2018-10-15

Applicant: 欧姆龙株式会社

Inventor： 梶井阳介 ,  的场贤一 ,  近藤智则

IPC: G01S17/08 ,  G01B11/02

Abstract: 本发明提供一种光学测量装置及光学测量方法，可容易地去除在对象物的一部分中所测量的距离中可能产生的噪声。光学测量装置(100)具备：光源(10)，发出光；光接收部(40)，检测由对象物(TA)反射的反射光的光接收量；测量部(51)，根据反射光的光接收量，测量从光学测量装置(100)至对象物(TA)为止的距离；以及检测部(52)，检测反射光的每单位时间的光接收量小于阀值的对象物(TA)的一部分。

公开(公告)号：CN112639392A

公开(公告)日：2021-04-09

申请号：CN201980057874.1

申请日：2019-12-26

Applicant: 欧姆龙株式会社

Inventor： 梶井阳介 ,  近藤智则

IPC: G01B11/00

Abstract: 本发明可在不针对每个测量条件设定阈值的情况下判定在测量值中可能产生的噪声的有无。一种光学测量装置100，基于由对象物TA反射的反射光的光接收量来获得测量值，且包括：设定部52，基于与光学测量装置100的光量相关的特性信息，设定相对于反射光的每单位时间的光接收量的阈值；以及判定部53，基于阈值来判定测量值的噪声的有无。