投影中心的偏移检测方法、装置及计算机可读存储介质

    公开(公告)号:CN111935468B

    公开(公告)日:2021-01-22

    申请号:CN202011014758.2

    申请日:2020-09-24

    Abstract: 本发明公开了一种投影中心的偏移检测方法,应用于设有检测工装的检测装置,检测工装设置于投影平面以及投影机之间,所述检测工装设有检测区域集,检测区域集对称的检测区域;包括以下步骤:获取所述投影平面当前的投影图像;在所述投影图像中确定所述检测区域集对应的质点,并获取所述质点的质点坐标;基于所述质点坐标,确定所述投影图像中的投影中心对应的偏移量。本发明还公开了一种投影中心的偏移检测装置及计算机可读存储介质。本发明能够根据质点坐标准确得到投影中心对应的偏移量,进而根据投影中心的偏移量确定投影灯与投影镜头的偏移状态,并根据该偏移量调整投影灯或投影镜头,以使投影机的投影灯所在平面与投影镜头所在平面平行。

    投影装置的脏污检测方法、检测装置及可读存储介质

    公开(公告)号:CN111866481A

    公开(公告)日:2020-10-30

    申请号:CN202010998830.3

    申请日:2020-09-22

    Abstract: 本发明公开了一种投影装置的脏污检测方法,包括以下步骤:获取第二投影装置在第一投影距离的投影图像;获取所述投影图像对应的第一脏污信息;根据预存的转换系数将所述第一脏污信息转换为第二投影距离对应的第二脏污信息,其中,所述第一投影距离小于第二投影距离;根据所述第二脏污信息进行所述第二投影装置的脏污判断。本发明还公开了一种检测装置及计算机可读存储介质,达成了降低检测成本的效果。

    金属基板及发热元件
    3.
    发明公开

    公开(公告)号:CN111864040A

    公开(公告)日:2020-10-30

    申请号:CN202011009462.1

    申请日:2020-09-23

    Abstract: 本发明公开一种金属基板及发热元件,金属基板包括:金属基层,形成有散热区;布线层,通过绝缘层与金属基层连接;正极焊盘,与布线层连接;负极焊盘,与散热区连接,散热区的面积大于负极焊盘的面积。或者,金属基板包括:金属基层,形成有散热区;布线层,通过绝缘层与金属基层连接;正极焊盘及负极焊盘,均与布线层连接;散热焊盘,用于收集正极焊盘及负极焊盘产生的热量,散热焊盘与散热区连接,散热区的面积大于散热焊盘的面积。本发明将热量较为集中的负极焊盘或散热焊盘与散热面积较大的散热区连接,增加了导热面积,利于将负极焊盘或散热焊盘产生的热量快速、高效地散掉,满足产品散热需求,提高产品的稳定性及可靠性,延长使用寿命。

    一种线圈的制造方法、线圈、电子设备

    公开(公告)号:CN107705976A

    公开(公告)日:2018-02-16

    申请号:CN201710765976.1

    申请日:2017-08-30

    Abstract: 本发明公开了一种线圈的制造方法、线圈、电子设备,包括以下步骤:将金属片的第一侧通过胶层粘接在透激光衬底上;通过激光在金属片的第二侧上切割线圈图案,以在金属片上形成贯穿其两侧的线圈;将金属片的第二侧粘接在胶带上后,使激光透过所述透激光衬底并作用在胶层上,以使透激光衬底、胶层脱离金属片的第一侧,并将金属片第一侧的线圈图案露出;在线圈上形成封装层,以将线圈上第一侧的位置封装起来。本发明的制造方法,通过激光的方式在金属片上进行切割,可以生产出尺寸微小、线型规则的线圈,而且采用透激光衬底作为制造的基底,后续可以通过激光去胶或者激光剥离的方式使透激光衬底更容易地去除,避免了线圈的变形。

    投影装置的脏污检测方法、检测装置及可读存储介质

    公开(公告)号:CN111866481B

    公开(公告)日:2020-12-08

    申请号:CN202010998830.3

    申请日:2020-09-22

    Abstract: 本发明公开了一种投影装置的脏污检测方法,包括以下步骤:获取第二投影装置在第一投影距离的投影图像;获取所述投影图像对应的第一脏污信息;根据预存的转换系数将所述第一脏污信息转换为第二投影距离对应的第二脏污信息,其中,所述第一投影距离小于第二投影距离;根据所述第二脏污信息进行所述第二投影装置的脏污判断。本发明还公开了一种检测装置及计算机可读存储介质,达成了降低检测成本的效果。

    图像的边界识别方法、装置以及计算机可读存储介质

    公开(公告)号:CN111932571A

    公开(公告)日:2020-11-13

    申请号:CN202011021145.1

    申请日:2020-09-25

    Inventor: 孟雪 宋青林

    Abstract: 本发明公开了一种图像的边界识别方法,该方法包括:获取投影屏对应的投影屏图像;在所述投影屏图像中确定各条第一边界以得到投影区域;根据所述投影区域中的各个第一像素点的灰度值确定各个第二边界,并根据各条所述第二边界确定投影画面。本发明可以使得得到的投影画面更加准确。此外还提出了一种图像的边界识别装置以及计算机可读存储介质。

    显示装置、显示方法以及计算机可读存储介质

    公开(公告)号:CN111929890A

    公开(公告)日:2020-11-13

    申请号:CN202011020555.4

    申请日:2020-09-25

    Inventor: 宋林东 宋青林

    Abstract: 本发明公开了一种显示装置、显示方法以及计算机可读存储介质,所述显示装置包括沿光线传输方向依次设置的光源本体、振镜以及成像面板,所述光源本体发出的光线在经所述振镜透射至所述成像面板;所述振镜可相对于所述成像面板摆动。本发明的主要目的在于提供一种显示装置、显示方法以及计算机可读存储介质,旨在解决现有技术中,Micro LED的显示精度较低的问题。

    光源的检测方法、检测装置和可读存储介质

    公开(公告)号:CN111929032A

    公开(公告)日:2020-11-13

    申请号:CN202011005831.X

    申请日:2020-09-23

    Inventor: 王非非 宋青林

    Abstract: 本发明公开了一种光源的检测方法、检测装置和可读存储介质,所述检测方法包括:获取光源开启后的点亮位置,依据所述点亮位置确定所述光源开启后的光学中心的位置;将所述光学中心的位置和预设标准位置进行对比获得光源的点亮数量;将所述点亮数量和预先接通电源的光源数量进行对比,确定点亮的光源和预先接通电源的光源是否一致。本发明技术方案能够快速有效判断光源是否正常开启,提高检测效率。

    投影系统照度测量方法、设备及可读存储介质

    公开(公告)号:CN111854935A

    公开(公告)日:2020-10-30

    申请号:CN202011013784.3

    申请日:2020-09-24

    Abstract: 本申请公开了一种投影系统照度测量方法、设备及可读存储介质,所述投影系统照度测量方法包括:获取待测量投影屏的几何参数,并基于所述几何参数,确定初始测量点坐标,进而基于预设激光灯阵列和所述初始测量点坐标,测量所述待测量投影屏对应的目标测量照度。本申请解决了投影系统照度测量效率低和精度低的技术问题。

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