一种故障预测方法、程序产品、装置及介质

    公开(公告)号:CN119046860A

    公开(公告)日:2024-11-29

    申请号:CN202411546241.6

    申请日:2024-11-01

    Abstract: 本发明公开一种故障预测方法、程序产品、装置及介质,涉及故障监测技术领域,用于预测目标对象是否故障,针对目前在预测硬盘是否故障时准确性差的问题,提供一种故障预测方法,可以将预测对象的多种特征数据纳入预测用的参数范围,从而进行更综合、更全面的故障预测。例如,在对硬盘进行故障预测时,本方法可以将硬盘的所有SMART参数均作为进行故障预测依据的特征数据,包含剩余寿命指标以及更多其他可以表征硬盘不同层面性能和健康状态的指标参数,从而实现更准确的故障预测。同时,本方法实现的故障预测也不局限于某一预测对象、基于其任意的多个不同特征数据可以实现故障预测,具有更高的通用性、泛用性和灵活性。

    一种预测SSD硬盘剩余寿命的方法、装置、终端及存储介质

    公开(公告)号:CN113688564A

    公开(公告)日:2021-11-23

    申请号:CN202110872186.X

    申请日:2021-07-30

    Inventor: 孔涛

    Abstract: 本发明公开一种预测SSD硬盘剩余寿命的方法、装置、终端及存储介质,基于硬盘统一标准获取各个训练硬盘的若干性能状态参数;建立参数加权值模型进行训练,获得各个性能状态参数的最优加权值;基于最优加权值建立性能状态参数加权和与硬盘寿命时长的函数模型进行训练,获得硬盘寿命预测函数模型;基于硬盘寿命预测函数模型对待预测硬盘进行剩余寿命预测。本发明进行寿命预测的性能状态参数是基于硬盘统一标准获取的,使本方法可适用于不同厂商生产的不同类型的硬盘,具有广泛应用价值,降低测试成本,为硬盘维护提供可靠依据,有效降低硬盘故障带来的数据丢失或服务器宕机的风险。

    一种预测SSD硬盘剩余寿命的方法、装置、终端及存储介质

    公开(公告)号:CN113688564B

    公开(公告)日:2024-02-27

    申请号:CN202110872186.X

    申请日:2021-07-30

    Inventor: 孔涛

    Abstract: 本发明公开一种预测SSD硬盘剩余寿命的方法、装置、终端及存储介质,基于硬盘统一标准获取各个训练硬盘的若干性能状态参数;建立参数加权值模型进行训练,获得各个性能状态参数的最优加权值;基于最优加权值建立性能状态参数加权和与硬盘寿命时长的函数模型进行训练,获得硬盘寿命预测函数模型;基于硬盘寿命预测函数模型对待预测硬盘进行剩余寿命预测。本发明进行寿命预测的性能状态参数是基于硬盘统一标准获取的,使本方法可适用于不同厂商生产的不同类型的硬盘,具有广泛应用价值,降低测试成本,为硬盘维护提供可靠依据,有效降低硬盘故障带来的数据丢失或服务器宕机的风险。

Patent Agency Ranking