一种光谱合成系统的性能测试装置及方法

    公开(公告)号:CN108344507A

    公开(公告)日:2018-07-31

    申请号:CN201711430293.7

    申请日:2017-12-26

    Abstract: 本发明公开了一种光谱合成系统的性能测试装置,包括顺次在光谱合成光路的光轴上放置的多个并列排放的光源、准直镜和光栅,还包括顺次在测试光路的光轴上放置的光栅、功率衰减器和哈特曼波前传感器,光栅位于这两条光轴的交汇处,是光谱合成光路(光轴)的光线入射点,也是测试光路(光轴)的光线出射点,哈特曼波前传感器包括微透镜阵列和阵列探测器,光栅出射的光线沿测试光路的光轴顺次经过功率衰减器、微透镜阵列和阵列探测器,阵列探测器位于微透镜阵列的聚焦焦点处。本发明可对各路合成激光进行测试,得到它们的倾斜、离焦和入射光栅时的位置偏差信息,从而对光谱合成性能进行评价;本发明的性能测试装置原理简单,操作方便,环境适应性强。

    一种测量高功率连续激光光束质量的装置

    公开(公告)号:CN106644058B

    公开(公告)日:2018-07-31

    申请号:CN201610820724.X

    申请日:2016-09-13

    Abstract: 本发明公开了种测量高功率连续激光光束质量的装置,包括聚焦透镜、多空心探针光斑测量设备和数据处理设备;聚焦透镜用于将待测准直光束变为聚焦光束并投射至测试区域;多空心探针光斑测量设备用于测量测试区域的光斑分布;数据处理设备用于对光斑分布数据进行处理得到光束质量;多空心探针光斑测量设备包括多个空心探针、导轨和控制电路,多个空心探针置放于导轨上,控制电路用于控制空心探针的运转,使得多个空心探针在高速旋转时保持相对位置不变。本发明能够快速地对高斯分布或类高斯分布的高功率连续激光光束质量进行测试,测试时间短,光学元件少,结构简单,易于实现,解决现有技术在高功率连续激光光束质量M测试中所受到的局限性。

    一种光谱合成光束重叠检测调整装置

    公开(公告)号:CN105140769B

    公开(公告)日:2018-06-26

    申请号:CN201510629104.3

    申请日:2015-09-28

    Abstract: 本发明公开了一种光谱合成光束重叠检测调整装置,属于高功率激光领域。其包括多个光学元件以及采集电路,其中,光栅设置在多个光束汇聚点处,楔镜设置在光栅的反射光方向上,楔镜出射光包括第一光束,分光镜设置在第一光束的方向上,分光镜出射光包括第一分光束和第二分光束,第一衰减器设置在第二分光束方向上,凸透镜设置第一衰减器的出射光的方向上,第一光斑测量仪设置在凸透镜出射光方向上,第二衰减器设置在第一分光束方向上,第二光斑测量仪设置在第二衰减器的出射光的方向上,采集电路用于接收远场光斑分布情况和近场光斑分布情况的信息。本发明装置能检测并调整光谱合成光束使之完全重叠。

    一种光纤型激光光束质量优化装置

    公开(公告)号:CN104917044B

    公开(公告)日:2018-04-03

    申请号:CN201510309730.4

    申请日:2015-06-08

    Abstract: 本发明提供了一种光纤型激光光束质量优化装置,该装置包含一根带耦合装置和多个光纤调整器的无源光纤、准直镜、分光镜、光束质量测量单元和控制单元。光束质量测量单元实时测量输出的光束质量,输送给控制单元;控制单元解析出各个控制点所需要的控制信号,然后输送给参数调整器。各个参数调整器改变光纤的折射率或光程等参数以后控制光纤中各个模式的模式耦合,从而使得能量从高阶模向低阶模耦合,实现光束质量的优化。本发明具有体积小巧,效率高,输出功率损失小,稳定可靠,可实时优化光束质量,抗干扰能力强的优点。

    一种测量高功率连续激光光束质量的装置

    公开(公告)号:CN106644058A

    公开(公告)日:2017-05-10

    申请号:CN201610820724.X

    申请日:2016-09-13

    CPC classification number: G01J1/00 G01J1/0411

    Abstract: 本发明公开了一种测量高功率连续激光光束质量的装置,包括聚焦透镜、多空心探针光斑测量设备和数据处理设备;聚焦透镜用于将待测准直光束变为聚焦光束并投射至测试区域;多空心探针光斑测量设备用于测量测试区域的光斑分布;数据处理设备用于对光斑分布数据进行处理得到光束质量;多空心探针光斑测量设备包括多个空心探针、导轨和控制电路,多个空心探针置放于导轨上,控制电路用于控制空心探针的运转,使得多个空心探针在高速旋转时保持相对位置不变。本发明能够快速地对高斯分布或类高斯分布的高功率连续激光光束质量进行测试,测试时间短,光学元件少,结构简单,易于实现,解决现有技术在高功率连续激光光束质量M2测试中所受到的局限性。

    一种激光器线宽测量方法及系统

    公开(公告)号:CN104897376B

    公开(公告)日:2018-01-05

    申请号:CN201510342293.6

    申请日:2015-06-19

    Abstract: 本发明公开了一种激光器线宽测量方法及系统,方法包括步骤:S1、将待测激光光束进行聚焦,测量焦平面上的光斑大小值为ω0,获得待测激光光束的初始发散角f为焦距;S2、将所述待测激光束进行光栅衍射得到‑1级衍射光,将所述‑1级衍射光聚焦后,测量焦平面上的光斑大小值为ω',获得光栅衍射后待测激光光束的发散角θ',S3、计算所述待测测激光光束的线宽Δλ=Δθ·d·cosθ,其中,d为光栅常数,θ为光栅衍射角,所述光栅衍射后待测激光光束的发散角的增大量Δθ=θ'‑θ0。本发明还提供了实现上述方法的系统,系统包括沿激光器出射光路依次放置的衍射光栅、聚焦装置、和光斑测量装置。相比于现有技术,本发明系统结构简单,方法易于实现,尤其适用于窄线宽激光器线宽的测量。

    一种光谱合成光束重叠检测调整装置

    公开(公告)号:CN105140769A

    公开(公告)日:2015-12-09

    申请号:CN201510629104.3

    申请日:2015-09-28

    Abstract: 本发明公开了一种光谱合成光束重叠检测调整装置,属于高功率激光领域。其包括多个光学元件以及采集电路,其中,光栅设置在多个光束汇聚点处,楔镜设置在光栅的反射光方向上,楔镜出射光包括第一光束,分光镜设置在第一光束的方向上,分光镜出射光包括第一分光束和第二分光束,第一衰减器设置在第二分光束方向上,凸透镜设置第一衰减器的出射光的方向上,第一光斑测量仪设置在凸透镜出射光方向上,第二衰减器设置在第一分光束方向上,第二光斑测量仪设置在第二衰减器的出射光的方向上,采集电路用于接收远场光斑分布情况和近场光斑分布情况的信息。本发明装置能检测并调整光谱合成光束使之完全重叠。

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