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公开(公告)号:CN114594117A
公开(公告)日:2022-06-07
申请号:CN202210144780.1
申请日:2022-02-17
Applicant: 滨州学院
IPC: G01N23/2202
Abstract: 本发明公开了一种AgMg合金表面MgO膜透射电镜试样制备方法,属于透射电镜试样技术领域,包括以下步骤:将AgMg合金带材进行清洁处理;对清洁后的AgMg合金带材进行轧制和冲裁,制得圆片;采用双喷减薄仪对圆片进行减薄,制备成满足透射电镜分析用样品;对经过双喷减薄的样品进行活化处理,然后对处理过的样品再进行单面的离子减薄,最终获得的透射电镜分析用样品,一面是氧化层,另一面是合金,试样的最薄区就是氧化层;本发明在现有的透射电镜试样制备方法基础之上,针对AgMg合金表面MgO薄层的透射电镜分析试样制备特点和要求之后,提出了一种多工序、多工艺组合的适用于AgMg合金表面MgO薄层的透射电镜分析试样的制备方法。