公开(公告)号：CN100458458C

公开(公告)日：2009-02-04

申请号：CN200480026139.8

申请日：2004-09-10

Applicant: 爱德万测试株式会社

Inventor： 上林弘典

IPC: G01R31/28

CPC classification number: G01R31/31924 ,  G01R31/31716 ,  G01R31/3191

Abstract: 一种测试装置及测试方法，用于测试电子元件的测试装置。测试装置包括：多个信号提供部，根据所输入的输入信号，输出用于测试电子元件的输出信号；循环电路，使输出信号进行循环，并作为输入信号输入到用于输出各个输出信号的信号提供部；计数器部，在各个信号提供部，对从输入信号被输入开始到循环信号被输入为止的周期进行测定；以及控制部，用于控制信号提供部将输出信号进行输出的时序，以使计数器部所测定的各个信号提供部的周期大致相同。

公开(公告)号：CN1829918A

公开(公告)日：2006-09-06

申请号：CN200480021574.1

申请日：2004-09-10

Applicant: 爱德万测试株式会社

Inventor： 上林弘典 ,  谷塚浩一

IPC: G01R31/28

CPC classification number: G01R31/31928 ,  G01R31/31922

Abstract: 一种测试装置，用于测试电子元件，本测试装置包括：多个测试模组、基准时脉产生部、产生电路、多个时序提供部，以及控制部。多个测试模组是把用于测试电子元件的测试图案供给至电子元件。基准时脉产生部是用以产生基准时脉。产生电路是根据基准时脉，产生使测试模组动作的时序信号。多个时序提供部是对应测试模组而设置，并将时序信号供给到对应的测试模组。控制部是使各测试模组依照时序信号输出测试图案的时序约略相同，以此方式控制时序提供部供给到各测试模组的时序信号的相位。

公开(公告)号：CN100523848C

公开(公告)日：2009-08-05

申请号：CN200480021574.1

申请日：2004-09-10

Applicant: 爱德万测试株式会社

Inventor： 上林弘典 ,  谷塚浩一

IPC: G01R31/28

CPC classification number: G01R31/31928 ,  G01R31/31922

Abstract: 一种测试装置，用于测试电子元件，本测试装置包括：多个测试模组、基准时脉产生部、产生电路、多个时序提供部，以及控制部。多个测试模组是把用于测试电子元件的测试图案供给至电子元件。基准时脉产生部是用以产生基准时脉。产生电路是根据基准时脉，产生使测试模组动作的时序信号。多个时序提供部是对应测试模组而设置，并将时序信号供给到对应的测试模组。控制部是使各测试模组依照时序信号输出测试图案的时序约略相同，以此方式控制时序提供部供给到各测试模组的时序信号的相位。

公开(公告)号：CN1849518A

公开(公告)日：2006-10-18

申请号：CN200480026139.8

申请日：2004-09-10

Applicant: 爱德万测试株式会社

Inventor： 上林弘典

IPC: G01R31/28

CPC classification number: G01R31/31924 ,  G01R31/31716 ,  G01R31/3191

Abstract: 一种测试装置及测试方法，用于测试电子元件的测试装置。测试装置包括：多个信号提供部，根据所输入的输入信号，输出用于测试电子元件的输出信号；循环电路，使输出信号进行循环，并作为输入信号输入到用于输出各个输出信号的信号提供部；计数器部，在各个信号提供部，对从输入信号被输入开始到循环信号被输入为止的周期进行测定；以及控制部，用于控制信号提供部将输出信号进行输出的时序，以使计数器部所测定的各个信号提供部的周期大致相同。