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公开(公告)号：CN101331404A
公开(公告)日：2008-12-24
申请号：CN200680046796.8
申请日：2006-12-13
Applicant: 爱德万测试株式会社
IPC: G01R31/28
CPC classification number: G01R31/31924 , G01R31/3191
Abstract: 提供一种测试装置，其配置有：激励器，其向被测试器件输出测试信号；第一FET开关，其切换激励器和被测试器件是否连接；比较器，其经第一FET开关接收被测试器件的输出信号，比较输出信号的电压和预先规定的参照电压；参照电压输入部，其把参照电压输入比较器；第二FET开关，其设置在参照电压输入部和比较器之间；虚拟电阻，其一端与比较器及第二FET开关的接点连接，另一端与规定的电压连接；激励器的输出电阻及第一FET开关的接通电阻的电阻比与虚拟电阻及第二FET开关的接通电阻的电阻比大致相等。
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公开(公告)号：CN1516812A
公开(公告)日：2004-07-28
申请号：CN02812051.5
申请日：2002-07-17
Applicant: 爱德万测试株式会社
Inventor： 关野隆
IPC: G01R31/319
CPC classification number: G01R31/31926
Abstract: 本发明提供一种输入输出电路，是与电子元件进行信号的授受的输入输出电路，装备向电子元件供给信号的驱动器、与驱动器并列设置并从电子元件接收信号的比较器、在比较器和电子元件之间与比较器及电子元件串联设置的中继电路、将比较器和中继电路进行电连接的第1传送线路，其中，中继电路的阻抗大于第1传送线路的阻抗。
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公开(公告)号：CN101331404B
公开(公告)日：2011-05-11
申请号：CN200680046796.8
申请日：2006-12-13
Applicant: 爱德万测试株式会社
IPC: G01R31/28
CPC classification number: G01R31/31924 , G01R31/3191
Abstract: 提供一种测试装置，其配置有：激励器，其向被测试器件输出测试信号；第一FET开关，其切换激励器和被测试器件是否连接；比较器，其经第一FET开关接收被测试器件的输出信号，比较输出信号的电压和预先规定的参照电压；参照电压输入部，其把参照电压输入比较器；第二FET开关，其设置在参照电压输入部和比较器之间；虚拟电阻，其一端与比较器及第二FET开关的接点连接，另一端与规定的电压连接；激励器的输出电阻及第一FET开关的接通电阻的电阻比与虚拟电阻及第二FET开关的接通电阻的电阻比大致相等。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN101099088B
公开(公告)日：2011-04-20
申请号：CN200580046354.9
申请日：2005-12-26
Applicant: 爱德万测试株式会社
IPC: G01R31/319 , G01R31/28 , H03H7/38 , H04B3/02
CPC classification number: G01R31/31924 , Y10T29/49002 , Y10T29/49155
Abstract: 本发明提供一种信号传输系统，包括：用于输出信号的驱动器、传输信号的传输线路、串行插入传输线路中，使低频信号衰减大于高频信号衰减的插入式衰减器、连结在传输线路和基准电位之间，使低频信号衰减大于高频信号衰减的附加式衰减器。驱动器、插入式衰减器以及附加式衰减器形成的合成阻抗，与所述传输线路的阻抗形成匹配。
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公开(公告)号：CN101099088A
公开(公告)日：2008-01-02
申请号：CN200580046354.9
申请日：2005-12-26
Applicant: 爱德万测试株式会社
IPC: G01R31/319 , G01R31/28 , H03H7/38 , H04B3/02
CPC classification number: G01R31/31924 , Y10T29/49002 , Y10T29/49155
Abstract: 本发明提供一种信号传输系统，包括：用于输出信号的驱动器、传输信号的传输线路、串行插入传输线路中，使低频信号衰减大于高频信号衰减的插入式衰减器、连结在传输线路和基准电位之间，使低频信号衰减大于高频信号衰减的附加式衰减器。驱动器、插入式衰减器以及附加式衰减器形成的合成阻抗，与所述传输线路的阻抗形成匹配。
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公开(公告)号：CN101331405B
公开(公告)日：2011-04-06
申请号：CN200680047293.2
申请日：2006-12-13
Applicant: 爱德万测试株式会社
IPC: G01R31/28
CPC classification number: G01R31/31924 , G01R31/3191
Abstract: 提供一种测试装置，该装置包括：将测试信号输出给被测试器件的激励器；将激励器与被测试器件电连接的第一传送路径；设置在第一传送路径中，切换是否连接激励器和被测试器件的第一FET开关；比较被测试器件的输出信号的电压和预先设定的参考电压的比较器；在第一传送路径中，从第一FET开关和被测试器件之间分路出的、连接第一传送路径和比较器的第二传送路径；设置在第二传送路径中的、切换是否连接比较器和被测试器件的第二FET开关；检测输出信号、根据检测的输出信号对第一FET开关的电容成分进行充放电的电容补偿部。
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公开(公告)号：CN101331405A
公开(公告)日：2008-12-24
申请号：CN200680047293.2
申请日：2006-12-13
Applicant: 爱德万测试株式会社
IPC: G01R31/28
CPC classification number: G01R31/31924 , G01R31/3191
Abstract: 提供一种测试装置，该装置包括：将测试信号输出给被测试器件的激励器；将激励器与被测试器件电连接的第一传送路径；设置在第一传送路径中，切换是否连接激励器和被测试器件的第一FET开关；比较被测试器件的输出信号的电压和预先设定的参考电压的比较器；在第一传送路径中，从第一FET开关和被测试器件之间分路出的、连接第一传送路径和比较器的第二传送路径；设置在第二传送路径中的、切换是否连接比较器和被测试器件的第二FET开关；检测输出信号、根据检测的输出信号对第一FET开关的电容成分进行充放电的电容补偿部。
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公开(公告)号：CN100390558C
公开(公告)日：2008-05-28
申请号：CN02812051.5
申请日：2002-07-17
Applicant: 爱德万测试株式会社
Inventor： 关野隆
IPC: G01R31/319
CPC classification number: G01R31/31926
Abstract: 本发明提供一种输入输出电路，是与电子元件进行信号的授受的输入输出电路，装备向电子元件供给信号的驱动器、与驱动器并列设置并从电子元件接收信号的比较器、在比较器和电子元件之间与比较器及电子元件串联设置的中继电路、将比较器和中继电路进行电连接的第1传送线路，其中，中继电路的阻抗大于第1传送线路的阻抗。
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