-
公开(公告)号：CN102841478B
公开(公告)日：2015-01-21
申请号：CN201210212928.7
申请日：2012-06-21
Applicant: 爱德万测试株式会社
IPC: G02F1/313
CPC classification number: G02F1/2255 , G02F1/0121 , G02F1/0316
Abstract: 本发明提供一种以低半波长电压、高频率来调制输入光的光调制器。提供一种光器件，具有：基板；电介质膜，形成在基板上、且具有并行的第一光导波路以及第二光导波路；绝缘膜，形成在电介质膜上；共面线路，具有形成在绝缘膜上且配置在第一光导波路以及第二光导波路之间的信号线、配置在对着第一光导波路的第二光导波路相反侧的第一区域中的第一接地线以及配置在对着第二光导波路的第一光导波路相反侧的第二区域的第二接地线；以及辅助电极，在第一区域以及第二区域中与电介质膜相接或者设置在绝缘膜的内部、且施加对于第一光导波路以及第二光导波路的偏置电压。
-
公开(公告)号：CN104280578A
公开(公告)日：2015-01-14
申请号：CN201410328858.0
申请日：2014-07-11
Applicant: 爱德万测试株式会社
CPC classification number: H04B10/0731 , H04B10/801
Abstract: 本发明提供一种器件接口装置、测试装置及测试方法，所述器件接口装置搭载具有光接口的被测器件，并包括：器件搭载部，搭载被测器件；光连接器，与被测器件所具有的光接口相连接；以及光信号检测部，在将器件搭载部上搭载的被测器件的光接口与光连接器相连接之前，对从光接口及光连接器的至少一方输出的光信号进行检测。测试装置容易执行对具有光接口的被测器件的测试。
-
公开(公告)号：CN102841478A
公开(公告)日：2012-12-26
申请号：CN201210212928.7
申请日：2012-06-21
Applicant: 爱德万测试株式会社
IPC: G02F1/313
CPC classification number: G02F1/2255 , G02F1/0121 , G02F1/0316
Abstract: 本发明提供一种以低半波长电压、高频率来调制输入光的光调制器。提供一种光器件，具有：基板；电介质膜，形成在基板上、且具有并行的第一光导波路以及第二光导波路；绝缘膜，形成在电介质膜上；共面线路，具有形成在绝缘膜上且配置在第一光导波路以及第二光导波路之间的信号线、配置在对着第一光导波路的第二光导波路相反侧的第一区域中的第一接地线以及配置在对着第二光导波路的第一光导波路相反侧的第二区域的第二接地线；以及辅助电极，在第一区域以及第二区域中与电介质膜相接或者设置在绝缘膜的内部、且施加对于第一光导波路以及第二光导波路的偏置电压。
-
公开(公告)号：CN104280578B
公开(公告)日：2017-04-26
申请号：CN201410328858.0
申请日：2014-07-11
Applicant: 爱德万测试株式会社
CPC classification number: H04B10/0731 , H04B10/801
Abstract: 本发明提供一种器件接口装置、测试装置及测试方法，所述器件接口装置搭载具有光接口的被测器件，并包括：器件搭载部，搭载被测器件；光连接器，与被测器件所具有的光接口相连接；以及光信号检测部，在将器件搭载部上搭载的被测器件的光接口与光连接器相连接之前，对从光接口及光连接器的至少一方输出的光信号进行检测。测试装置容易执行对具有光接口的被测器件的测试。
-
-
-
Search Results
4
records
(took 0.032 seconds)
