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公开(公告)号：CN102798773B
公开(公告)日：2016-01-20
申请号：CN201210169716.5
申请日：2012-05-28
Applicant: 爱德万测试株式会社
Inventor： 大岛广美
IPC: G01R31/00
CPC classification number: G01R31/31937 , G11C29/56012
Abstract: 本发明的目的是确实取得数据并测试。本发明提供一种用于测试输出数据信号和表示数据信号取样时序的时钟信号的被测试器件的测试装置，包括：取得部，以与被测试器件输出的时钟信号对应的时序取得被测试器件输出的数据信号；缓冲部，具有多个条目，在与被测试器件输出的时钟信号对应的时序中，依次在各条目对被取得部取得的数据信号进行缓冲，以根据该测试装置的测试周期发生的时序信号的时序输出在各条目缓冲后的数据信号；判断部，其将被缓冲部输出的数据信号与期望值进行比较。
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公开(公告)号：CN102800366A
公开(公告)日：2012-11-28
申请号：CN201210169924.5
申请日：2012-05-28
Applicant: 爱德万测试株式会社
IPC: G11C29/56
CPC classification number: G11C29/56012 , G11C29/028
Abstract: 提供一种精度很好地测试收发数据信号和时钟信号的被测试器件的测试装置，该测试装置具有：对被测试器件供给数据信号及时钟信号作为测试信号的测试信号供给部；以被测试器件输出的时钟信号对应的时序取得被测试器件输出的数据信号的数据取得部；根据数据取得部取得的数据信号与期望值比较得到的比较结果判断被测试器件的好坏的判断部；以及在调整的时间中，调整用于生成取得数据信号的时序的时钟信号的延迟量的调整部。
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公开(公告)号：CN102798774A
公开(公告)日：2012-11-28
申请号：CN201210170246.4
申请日：2012-05-28
Applicant: 爱德万测试株式会社
Inventor： 大岛广美
CPC classification number: G11C29/56012 , G01R31/31726
Abstract: 提供一种测试装置，取得从被测试器件输出的时钟信号进行测试。具有：数据取得部，以与被测试器件输出的时钟信号对应的取样时钟的时序或与该测试装置的测试周期对应的时序信号的时序取得被测试器件输出的所述数据信号；判断部，基于将所述数据取得部取得的所述数据信号与期望值进行比较的比较结果判断所述被测试器件的好坏；指定部，指定所述数据取得部根据与所述取样时钟对应的时序或与所述时序信号对应的时序的哪一个取得数据信号。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN102800367B
公开(公告)日：2016-03-09
申请号：CN201210170582.9
申请日：2012-05-28
Applicant: 爱德万测试株式会社
Inventor： 大岛广美
IPC: G11C29/56
CPC classification number: G11C29/56012
Abstract: 本发明提供一种进行高精度测试的测试装置，是对输出数据信号和表示所述数据信号取样的时序的时钟信号的被测试器件进行测试的测试装置，其具有：数据取得部，以与被测试器件输出的时钟信号对应的时序取得被测试器件输出的数据信号；屏蔽部，在被测试器件不输出时钟信号期间，屏蔽数据取得部的数据取得；判断部，基于将数据取得部取得的数据信号与期望值比较后的结果，判断被测试器件的好坏。
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公开(公告)号：CN102800366B
公开(公告)日：2015-04-08
申请号：CN201210169924.5
申请日：2012-05-28
Applicant: 爱德万测试株式会社
IPC: G11C29/56
CPC classification number: G11C29/56012 , G11C29/028
Abstract: 提供一种精度很好地测试收发数据信号和时钟信号的被测试器件的测试装置，该测试装置具有：对被测试器件供给数据信号及时钟信号作为测试信号的测试信号供给部；以被测试器件输出的时钟信号对应的时序取得被测试器件输出的数据信号的数据取得部；根据数据取得部取得的数据信号与期望值比较得到的比较结果判断被测试器件的好坏的判断部；以及在调整的时间中，调整用于生成取得数据信号的时序的时钟信号的延迟量的调整部。
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公开(公告)号：CN102854411A
公开(公告)日：2013-01-02
申请号：CN201210215861.2
申请日：2012-06-27
Applicant: 爱德万测试株式会社
Inventor： 大岛广美
IPC: G01R31/00
CPC classification number: G01R31/31919 , G01R31/31932
Abstract: 本发明提供一种以正确的时序比较取样的数据值的测试装置，用于测试输出数据信号和表示取样所述数据信号的时序的时钟信号的被测试器件，其具备：缓冲部，缓冲所述数据信号；图案发生部，在该测试装置的每个测试周期，发生控制信号及数据信号的期望值；读出控制部，在每个测试周期，以控制信号指示从缓冲部读出数据为条件，自缓冲部读出所述数据信号；判断部，比较被所述读出控制部读出的所述数据信号和被所述图案发生部发生的期望值。
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公开(公告)号：CN102800367A
公开(公告)日：2012-11-28
申请号：CN201210170582.9
申请日：2012-05-28
Applicant: 爱德万测试株式会社
Inventor： 大岛广美
IPC: G11C29/56
CPC classification number: G11C29/56012
Abstract: 本发明提供一种进行高精度测试的测试装置，是对输出数据信号和表示所述数据信号取样的时序的时钟信号的被测试器件进行测试的测试装置，其具有：数据取得部，以与被测试器件输出的时钟信号对应的时序取得被测试器件输出的数据信号；屏蔽部，在被测试器件不输出时钟信号期间，屏蔽数据取得部的数据取得；判断部，基于将数据取得部取得的数据信号与期望值比较后的结果，判断被测试器件的好坏。
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公开(公告)号：CN102798773A
公开(公告)日：2012-11-28
申请号：CN201210169716.5
申请日：2012-05-28
Applicant: 爱德万测试株式会社
Inventor： 大岛广美
IPC: G01R31/00
CPC classification number: G01R31/31937 , G11C29/56012
Abstract: 本发明的目的是确实取得数据并测试。本发明提供一种用于测试输出数据信号和表示数据信号取样时序的时钟信号的被测试器件的测试装置，包括：取得部，以与被测试器件输出的时钟信号对应的时序取得被测试器件输出的数据信号；缓冲部，具有多个条目，在与被测试器件输出的时钟信号对应的时序中，依次在各条目对被取得部取得的数据信号进行缓冲，以根据该测试装置的测试周期发生的时序信号的时序输出在各条目缓冲后的数据信号；判断部，其将被缓冲部输出的数据信号与期望值进行比较。
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