公开(公告)号：CN1875283A

公开(公告)日：2006-12-06

申请号：CN200480031777.9

申请日：2004-11-26

Applicant: 爱德万测试株式会社

Inventor： 稻叶健司 ,  宫崎将司

IPC: G01R31/319 ,  G01R31/28

CPC classification number: G01R31/2889

Abstract: 一种测试装置，包括多个测试模块槽，用于对测试中的设备进行测试的多种测试模块选择性地装设于其中，包括：操作顺序保持件，用于保持指示这些测试模块中的第一测试模块在这些测试模块中的第二测试模块进行测试操作前所应执行之测试操作的信息；触发返回信号接收件，用于当第一测试模块之测试操作已完成，接收从第一测试模块来之触发返回信号，触发返回信号指示第一测试模块已完成其测试操作；以及触发信号提供件，用于当触发返回信号接收件接收触发返回信号，提供触发信号至第二测试模块，触发信号指示第二测试模块应开始其测试操作。

公开(公告)号：CN100592098C

公开(公告)日：2010-02-24

申请号：CN200480031777.9

申请日：2004-11-26

Applicant: 爱德万测试株式会社

Inventor： 稻叶健司 ,  宫崎将司

IPC: G01R31/319 ,  G01R31/28

CPC classification number: G01R31/2889

Abstract: 一种测试装置，包括多个测试模块槽，用于对测试中的设备进行测试的多种测试模块选择性地装设于其中，包括：操作顺序保持件，用于保持指示这些测试模块中的第一测试模块在这些测试模块中的第二测试模块进行测试操作前所应执行之测试操作的信息；触发返回信号接收件，用于当第一测试模块之测试操作已完成，接收从第一测试模块来之触发返回信号，触发返回信号指示第一测试模块已完成其测试操作；以及触发信号提供件，用于当触发返回信号接收件接收触发返回信号，提供触发信号至第二测试模块，触发信号指示第二测试模块应开始其测试操作。