测试装置、电路装置以及程序

    公开(公告)号:CN101755220A

    公开(公告)日:2010-06-23

    申请号:CN200780053815.4

    申请日:2007-07-17

    Inventor: 小塚纪义

    CPC classification number: G01R31/31926 G01R31/31924

    Abstract: 本发明提供一种测试装置,其可不增加总线的数量而增设动作单元。该对被测试器件进行测试的装置包括:多个动作单元,其依据所给予的控制数据,为对被测试器件进行测试而动作;控制部,其生成数据包,该数据包包括控制数据及用于表示应选择哪个动作单元的单元选择数据;多个数据传送单元,其纵向串联设置并依次传送数据包,且与至少一个动作单元分别对应设置,在所接收的数据包中包含表示应选择与自己对应的动作单元的单元选择数据的情况下,对所选择的所述动作单元输入所述数据包中包含的所述控制数据,或是从该动作单元中读出数据。

    测试装置、校正方法及程序

    公开(公告)号:CN102460194A

    公开(公告)日:2012-05-16

    申请号:CN200980160165.2

    申请日:2009-06-29

    Inventor: 小塚纪义

    CPC classification number: G01R31/31924 G01R31/31726

    Abstract: 本发明提供一种测试装置,用于测试被测试器件,其包括:第一端子群组和第二端子群组,其具有向被测试器件输出信号的多个驱动器;第一共用设定部,其共用地设定从第一端子群组中的一驱动器和第二端子群组中的一驱动器输出的信号的延迟量;以及群组间调整部,其基于第一共用设定部在第一端子群组内调整基准相位时所设定的延迟量设定值,及第一共用设定部在第二端子群组内调整基准相位时所设定的延迟量设定值,来拉近从第一端子群组内的多个驱动器输出的信号的基准相位与从第二端子群组内的多个驱动器输出的信号的基准相位。

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