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公开(公告)号:CN101057198A
公开(公告)日:2007-10-17
申请号:CN200580038529.1
申请日:2005-11-29
Applicant: 爱德万测试株式会社
Inventor: 小寺悟司
CPC classification number: G01R31/31924 , G01R31/31721
Abstract: 一种测试装置,为一种测试电子元件的测试装置。该测试装置包括:图案生成部,生成用于供给到电子元件的测试图案;电源电路,用于对电子元件供给电源电力;判定部,根据电子元件输出的输出信号而判定电子元件的好坏;其中,电源电路包括:电压源,用于生成应施加在电子元件上的设定的输入电压;功率元件,根据电压源所生成的输入电压,向电子元件供给电源电力;电源,用于供给功率元件的驱动电力,以及电压控制部,根据功率元件所输出的电源电力而控制电源在功率元件上所施加的驱动电压。
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公开(公告)号:CN100559320C
公开(公告)日:2009-11-11
申请号:CN200580038529.1
申请日:2005-11-29
Applicant: 爱德万测试株式会社
Inventor: 小寺悟司
CPC classification number: G01R31/31924 , G01R31/31721
Abstract: 一种测试装置,为一种测试电子元件的测试装置。该测试装置包括:图案生成部,生成用于供给到电子元件的测试图案;电源电路,用于对电子元件供给电源电力;判定部,根据电子元件输出的输出信号而判定电子元件的好坏;其中,电源电路包括:电压源,用于生成应施加在电子元件上的设定的输入电压;功率元件,根据电压源所生成的输入电压,向电子元件供给电源电力;电源,用于供给功率元件的驱动电力,以及电压控制部,根据功率元件所输出的电源电力而控制电源在功率元件上所施加的驱动电压。
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