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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN102150052A
公开(公告)日：2011-08-10
申请号：CN200980135790.1
申请日：2009-10-23
Applicant: 爱德万测试株式会社
CPC classification number: G01R31/31919 , G01R29/26 , G01R31/2837 , G01R31/2894
Abstract: 本发明提供一种确定成分模型识别装置，识别提供给其的概率密度函数中所包含的确定成分的类型，包括：计算概率密度函数在规定的变量轴上的频谱的频谱计算部；检测频谱在变量轴上的空值的空值检测部；基于空值检测部检测出的空值，对预先确定的多种类型的确定成分的每一个，分别计算确定成分的频谱的理论值的理论值计算部；将从频谱计算部计算的频谱减去各种类型的确定成分的频谱的理论值而得到的对数振幅频谱差，最接近于高斯分布的频谱的确定成分的类型，判定为概率密度函数中所包含的确定成分的类型的模型判定部。
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公开(公告)号：CN102414567A
公开(公告)日：2012-04-11
申请号：CN201080017802.3
申请日：2010-04-15
Applicant: 爱德万测试株式会社
IPC: G01R29/02
CPC classification number: G01R31/31709
Abstract: 提供一种校正装置，用于校正概率密度函数，该概率密度函数是由利用相对于预定的时间间隔的理想时序具有误差的选通时序，对测量对象的特性进行测量后的测量结果所得到的，其中该校正装置具备：插值部，其被给予作为测量结果的累积密度函数，对累积密度函数的各个选通时序之间的值进行插值，并算出在各个理想时序中的累积密度函数的值，以算出在理想时序中的校正累积密度函数；以及校正函数产生部，其基于插值部所算出的校正累积密度函数，生成在概率密度函数中的选通时序的误差被校正后的校正概率密度函数。
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公开(公告)号：CN100406842C
公开(公告)日：2008-07-30
申请号：CN200480021437.8
申请日：2004-07-23
Applicant: 爱德万测试株式会社
Abstract: 一种位置侦测装置，其侦测按照所接受的光的强度而输出一输出信号的摄影装置的位置，此位置侦测装置包括：光源、照射透镜、位置侦测部及移动部。其中，光源是产生光。照射透镜是将光源所产生的光，照射于摄影装置上。位置侦测部，是依据于摄影装置按照经由照射透镜所受光的光而输出的输出信号，侦测对于照射透镜的摄影装置的相对位置。移动部，是依据位置侦测部所侦测的相对位置，藉由移动摄影装置及照明透镜的至少一方，使摄影装置的相对位置变化到预定位置。
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公开(公告)号：CN102150051A
公开(公告)日：2011-08-10
申请号：CN200980135539.5
申请日：2009-10-26
Applicant: 爱德万测试株式会社
CPC classification number: G01R31/31709 , G01R29/26
Abstract: 本发明提供一种确定成分模型判定装置，判定在所给予的概率密度函数中所包含的确定成分的模型，包括：计算在规定的变量轴上概率密度函数的频谱的频谱计算部；检测频谱在变量轴上的空值的空值检测部；基于空值检测部检测出的空值，对预先确定的多种类型的模型的确定成分的每一个，分别计算确定成分的频谱的理论值的理论值计算部；基于表示频谱计算部计算的频谱与各模型的确定成分的频谱的理论值之差分的各个频谱差，判定概率密度函数中所包含的确定成分的模型的模型判定部。
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公开(公告)号：CN1829897A
公开(公告)日：2006-09-06
申请号：CN200480021437.8
申请日：2004-07-23
Applicant: 爱德万测试株式会社
Abstract: 一种位置侦测装置，其侦测按照所接受的光的强度而输出一输出信号的摄影装置的位置，此位置侦测装置包括：光源、照射透镜、位置侦测部及移动部。其中，光源是产生光。照射透镜是将光源所产生的光，照射于摄影装置上。位置侦测部，是依据于摄影装置按照经由照射透镜所受光的光而输出的输出信号，侦测对于照射透镜的摄影装置的相对位置。移动部，是依据位置侦测部所侦测的相对位置，藉由移动摄影装置及照明透镜的至少一方，使摄影装置的相对位置变化到预定位置。
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