公开(公告)号：CN103035302B

公开(公告)日：2015-06-03

申请号：CN201210307998.0

申请日：2012-08-27

Applicant: 爱德万测试株式会社

Inventor： 川上刚

IPC: G11C29/56

CPC classification number: G11C29/56004

Abstract: 本发明公开了一种测试装置，其能对地址进行反转控制。所述测试装置包括：地址发生部，发生被测试存储器的地址；选择部，选择是否将地址发生部发生的地址进行比特反转后，供给至被测试存储器；反转处理部，其在选择部选择了将地址进行比特反转时，将由地址发生部发生的地址比特反转并输出，在选择部选择不将地址比特反转时，将地址发生部发生的地址不进行比特反转而输出；供给部，向被测试存储器提供反转处理部输出的被反转控制后的地址，以及表示反转处理部输出的地址是否是比特反转后的地址的反转周期信号。

公开(公告)号：CN103035302A

公开(公告)日：2013-04-10

申请号：CN201210307998.0

申请日：2012-08-27

Applicant: 爱德万测试株式会社

Inventor： 川上刚

IPC: G11C29/56

CPC classification number: G11C29/56004

Abstract: 本发明公开了一种测试装置，其能对地址进行反转控制。所述测试装置包括：地址发生部，发生被测试存储器的地址；选择部，选择是否将地址发生部发生的地址进行比特反转后，供给至被测试存储器；反转处理部，其在选择部选择了将地址进行比特反转时，将由地址发生部发生的地址比特反转并输出，在选择部选择不将地址比特反转时，将地址发生部发生的地址不进行比特反转而输出；供给部，向被测试存储器提供反转处理部输出的被反转控制后的地址，以及表示反转处理部输出的地址是否是比特反转后的地址的反转周期信号。