测试装置及其设置方法
    1.
    发明授权

    公开(公告)号:CN100445761C

    公开(公告)日:2008-12-24

    申请号:CN200480007212.7

    申请日:2004-03-16

    Inventor: 矢口刚史

    CPC classification number: G01R31/31908

    Abstract: 一种测试电气元件的测试装置,包括:多个信号输入-输出单元,其响应该电气元件中所包括的多个端子的每一个来输入和/或输出测试信号;一个通道选择存储器,其存储指示每个信号输入-输出单元是否应当根据设置条件执行设置的多条通道选择信息;一个设置条件存储器,其存储关于信号输入-输出单元的设置条件;以及一个控制构件;当接收到设置指令以设置信号输入-输出单元的设置条件时;其根据设置指令检索并向信号输入-输出单元提供存储在设置条件存储器中的设置条件以及存储在通道选择存储器中的通道选择信息,其中当至少一个信号输入-输出单元被从控制构件提供的通道选择信息选中时,则根据从控制构件提供的设置条件设置此一信号输入-输出单元。

    测试装置及测试模块
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN102193058A

    公开(公告)日:2011-09-21

    申请号:CN201110028842.4

    申请日:2011-01-26

    CPC classification number: G01R31/31907

    Abstract: 本发明有效地使用测试模块具有的资源,提供测试至少1个被测试设备的测试装置,该测试装置具有测试模块,其具有在与被测试设备之间传送信号,测试该被测试设备的多个测试部;多个测试控制部,控制上述多个测试部;所述测试模块,能够对所述多个测试部的各个独立地设定所述多个测试部的各个接受由所述多个测试控制部中的任意一个测试控制部的控制。

    测试装置及测试方法
    3.
    发明授权

    公开(公告)号:CN102193055B

    公开(公告)日:2013-08-21

    申请号:CN201110025822.1

    申请日:2011-01-24

    CPC classification number: G01R31/31907

    Abstract: 本发明提供一种测试装置以及该测试装置所涉及的测试方法。该测试装置测试被测试设备,具有:多个测试模块,其与被测试设备之间传送信号;测试控制部,其输出用于成批读取两个以上测试模块所存储的数据的群组读出命令;控制接口部,其根据群组读出命令,从两个以上的测试模块读取数据并成批通知给测试控制部。

    测试装置及测试方法
    4.
    发明公开

    公开(公告)号:CN102193055A

    公开(公告)日:2011-09-21

    申请号:CN201110025822.1

    申请日:2011-01-24

    CPC classification number: G01R31/31907

    Abstract: 本发明提供一种测试装置以及该测试装置所涉及的测试方法。该测试装置测试被测试设备,具有:多个测试模块,其与被测试设备之间传送信号;测试控制部,其输出用于成批读取两个以上测试模块所存储的数据的群组读出命令;控制接口部,其根据群组读出命令,从两个以上的测试模块读取数据并成批通知给测试控制部。

    测试装置及测试方法
    5.
    发明公开

    公开(公告)号:CN102193057A

    公开(公告)日:2011-09-21

    申请号:CN201110025922.4

    申请日:2011-01-24

    CPC classification number: G01R31/31907

    Abstract: 本发明提供一种测试被测试器件的测试装置,其配置有在被测试器件之间传输信号的多个测试模块、连接多个测试模块的总线、经由总线控制多个测试模块的测试控制部;测试模块具有在被测试器件之间传输信号的测试部、控制测试部的模块控制部;各个测试模块中的模块控制部经由总线与其它测试模块的模块控制部传输信号。

    测试装置及其设置方法
    6.
    发明公开

    公开(公告)号:CN1761885A

    公开(公告)日:2006-04-19

    申请号:CN200480007212.7

    申请日:2004-03-16

    Inventor: 矢口刚史

    CPC classification number: G01R31/31908

    Abstract: 一种测试电气元件的测试装置,包括:多个信号输入-输出单元,其响应该电气元件中所包括的多个端子的每一个来输入和/或输出测试信号;一个通道选择存储器,其存储指示每个信号输入-输出单元是否应当根据设置条件执行设置的多条通道选择信息;一个设置条件存储器,其存储关于信号输入-输出单元的设置条件;以及一个控制构件;当接收到设置指令以设置信号输入-输出单元的设置条件时;其根据设置指令检索并向信号输入-输出单元提供存储在设置条件存储器中的设置条件以及存储在通道选择存储器中的通道选择信息,其中当至少一个信号输入-输出单元被从控制构件提供的通道选择信息选中时,则根据从控制构件提供的设置条件设置此一信号输入-输出单元。

Patent Agency Ranking