公开(公告)号：CN102236071B

公开(公告)日：2013-09-18

申请号：CN201110090566.4

申请日：2011-04-12

Applicant: 爱德万测试株式会社

Inventor： 竹下觉 ,  榎原淳二 ,  高本智行 ,  西浦孝英 ,  安野秀彦

IPC: G01R31/28 ,  G01R31/26 ,  G01R1/04

CPC classification number: G01R31/2889 ,  G01R31/2874

Abstract: 本发明提供一种使用附加电路使已有的测试装置低成本实现高速化以及高功能化的测试装置，其连接于与被测试器件的种类对应的插座板，测试所述被测试器件，包括：测试头，其在内部具有用于测试被测试器件的测试模块；功能板，通过电缆与测试头内的测试模块连接，同时与插座板连接；以及附加电路，装载在功能板上，与测试模块及被测试器件连接。

公开(公告)号：CN102236071A

公开(公告)日：2011-11-09

申请号：CN201110090566.4

申请日：2011-04-12

Applicant: 爱德万测试株式会社

Inventor： 竹下觉 ,  榎原淳二 ,  高本智行 ,  西浦孝英 ,  安野秀彦

IPC: G01R31/28 ,  G01R31/26 ,  G01R1/04

CPC classification number: G01R31/2889 ,  G01R31/2874

Abstract: 本发明提供一种使用附加电路使已有的测试装置低成本实现高速化以及高功能化的测试装置，其连接于与被测试器件的种类对应的插座板，测试所述被测试器件，包括：测试头，其在内部具有用于测试被测试器件的测试模块；功能板，通过电缆与测试头内的测试模块连接，同时与插座板连接；以及附加电路，装载在功能板上，与测试模块及被测试器件连接。