公开(公告)号：CN100480719C

公开(公告)日：2009-04-22

申请号：CN200480010037.7

申请日：2004-03-24

Applicant: 爱德万测试株式会社

Inventor： 藤崎健一

IPC: G01R31/3181 ,  G11C29/00

CPC classification number: G01R31/31935 ,  G11C29/56 ,  G11C2029/5606

Abstract: 一种测试装置，包括产生向被测试元件供给的位址信号及测试信号，以及被供给测试信号的被测试元件应输出的期望值信号的图形生成器、将被测试元件输出的输出信号和期望值信号进行比较，并在不一致的情况下产生失效信号的逻辑比较器、储存逻辑比较器产生的失效信号的不良解析记忆体。不良解析记忆体具有将图形生成器产生的位址信号的值即失效位址值，及逻辑比较器产生的失效信号的值即失效数据值，作为1组数据依次进行储存的第1储存部、从第1储存部读出失效位址值及失效数据值的组合，并在失效位址值表示的位址将失效数据值进行储存的第2储存部。

公开(公告)号：CN1774641A

公开(公告)日：2006-05-17

申请号：CN200480010037.7

申请日：2004-03-24

Applicant: 爱德万测试株式会社

Inventor： 藤崎健一

IPC: G01R31/3181 ,  G11C29/00

CPC classification number: G01R31/31935 ,  G11C29/56 ,  G11C2029/5606

Abstract: 一种测试装置，包括产生向被测试元件供给的位址信号及测试信号，以及被供给测试信号的被测试元件应输出的期望值信号的图形生成器、将被测试元件输出的输出信号和期望值信号进行比较，并在不一致的情况下产生失效信号的逻辑比较器、储存逻辑比较器产生的失效信号的不良解析记忆体。不良解析记忆体具有将图形生成器产生的位址信号的值即失效位址值，及逻辑比较器产生的失效信号的值即失效数据值，作为1组数据依次进行储存的第1储存部、从第1储存部读出失效位址值及失效数据值的组合，并在失效位址值表示的位址将失效数据值进行储存的第2储存部。