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公开(公告)号：CN100456042C
公开(公告)日：2009-01-28
申请号：CN200480025255.8
申请日：2004-09-01
Applicant: 爱德万测试株式会社
Inventor： 谷浩一
IPC: G01R31/28
CPC classification number: G01R31/31907 , G01R31/319 , G01R31/31926
Abstract: 本发明提供一种试验装置，用于试验电子元件，此试验装置包括：多个测试模块、多个返回电路、多个汇总部与多个分配部。其中，测试模块进行电子元件和信号的授受。返回电路与测试模块对应设置，并接收用于表示在电子元件输出的输出图案上产生故障的时序的故障时序信号。汇总部接收返回电路输出的故障时序信号，并计算故障时序信号中的一个以上的故障时序信号的逻辑和，且输出逻辑和。分配部与汇总部对应设置，并将对应的汇总部的运算结果分配到测试模块。
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