公开(公告)号：CN106569051A

公开(公告)日：2017-04-19

申请号：CN201610115634.0

申请日：2016-02-29

Applicant: 爱德万测试株式会社

Inventor： 高桥公二

IPC: G01R31/00

CPC classification number: G01R31/3177 ,  G01R31/31707 ,  G01R31/318371 ,  G01R31/31908 ,  G01R31/31917 ,  G01R31/31919 ,  G01R31/31921 ,  G01R31/00

Abstract: 本发明减少测试装置中设置的模式产生器的数量并且降低测试成本。本发明提供了对被测试装置进行测试的测试装置和测试方法，包括：包发送部，在被测试装置的测试中，将需供给至被测试装置的测试模式进行模式化并进行发送；包传送部，传送由包发送部发送的包；包接收部，接收通过包传送部传送的测试模式；缓冲部，缓冲由包接收部接收的测试模式；以及测试信号供给部，将与从缓冲部得到的测试模式对应的测试信号供给至被测试装置。

公开(公告)号：CN102077102A

公开(公告)日：2011-05-25

申请号：CN200880130090.9

申请日：2008-07-02

Applicant: 爱德万测试株式会社

Inventor： 高桥公二

IPC: G01R31/28

CPC classification number: G01R31/31907 ,  G01R31/31716 ,  G01R31/31901

Abstract: 一种对被测试设备进行测试测试装置，包括：通过与被测试设备交换信号，对被测试设备进行测试的多个测试模块，和对多个测试模块进行控制的控制部；各个测试模块具有：测试部，与被测试设备交换信号；自我诊断部，根据被赋予的诊断数据，诊断测试部的操作；控制部向设定相同的诊断数据的自我诊断部并行提供诊断数据，向设定不同的诊断数据的自我诊断部依次提供诊断数据。

公开(公告)号：CN102077102B

公开(公告)日：2013-06-19

申请号：CN200880130090.9

申请日：2008-07-02

Applicant: 爱德万测试株式会社

Inventor： 高桥公二

IPC: G01R31/28

CPC classification number: G01R31/31907 ,  G01R31/31716 ,  G01R31/31901

Abstract: 一种对被测试设备进行测试测试装置，包括：通过与被测试设备交换信号，对被测试设备进行测试的多个测试模块，和对多个测试模块进行控制的控制部；各个测试模块具有：测试部，与被测试设备交换信号；自我诊断部，根据被赋予的诊断数据，诊断测试部的操作；控制部向设定相同的诊断数据的自我诊断部并行提供诊断数据，向设定不同的诊断数据的自我诊断部依次提供诊断数据。