公开(公告)号：CN1802570A

公开(公告)日：2006-07-12

申请号：CN200480015581.0

申请日：2004-06-04

Applicant: 爱德万测试株式会社

Inventor： 千叶宜明 ,  鹤木康隆

IPC: G01R31/3181

CPC classification number: G01R31/31922 ,  G01R31/31928

Abstract: 一种测试装置，其具有生成第1基准时钟脉冲的第1基准时钟脉冲生成部；根据第1基准时钟脉冲，生成第1测试速率时钟脉冲的第1测试速率生成部；根据第1测试速率时钟脉冲，将第1测试图形供给至电子元件的第1驱动部；生成第2基准时钟脉冲的第2基准时钟脉冲生成部；使第2基准时钟脉冲与第1测试速率时钟脉冲相位同步的第1相位同步部；根据相位同步的第2基准时钟脉冲，生成第2测试速率时钟脉冲的第2测试速率生成部；以及根据第2测试速率时钟脉冲，将第2测试图形供给至电子元件的第2驱动部。

公开(公告)号：CN100529784C

公开(公告)日：2009-08-19

申请号：CN200480015581.0

申请日：2004-06-04

Applicant: 爱德万测试株式会社

Inventor： 千叶宜明 ,  鹤木康隆

IPC: G01R31/3181

CPC classification number: G01R31/31922 ,  G01R31/31928

Abstract: 一种测试装置，其具有生成第1基准时钟脉冲的第1基准时钟脉冲生成部；根据第1基准时钟脉冲，生成第1测试速率时钟脉冲的第1测试速率生成部；根据第1测试速率时钟脉冲，将第1测试图形供给至电子元件的第1驱动部；生成第2基准时钟脉冲的第2基准时钟脉冲生成部；使第2基准时钟脉冲与第1测试速率时钟脉冲相位同步的第1相位同步部；根据相位同步的第2基准时钟脉冲，生成第2测试速率时钟脉冲的第2测试速率生成部；以及根据第2测试速率时钟脉冲，将第2测试图形供给至电子元件的第2驱动部。