抗反射结构体
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN111095035A

    公开(公告)日:2020-05-01

    申请号:CN201880055595.7

    申请日:2018-08-22

    Inventor: 平间智 篠塚启

    Abstract: 本发明提供一种抗反射结构体(1),具备多个有底筒状的吸光单元(2),所述吸光单元(2)包括具有大致圆形的外缘部的底部及沿所述外缘部竖立的壁部,所述底部的上方设为开口部,所述抗反射结构体(1)满足特定的条件。

    半导体发光元件用基板及半导体发光元件

    公开(公告)号:CN108389944B

    公开(公告)日:2021-04-02

    申请号:CN201810318509.9

    申请日:2013-08-21

    Abstract: 本发明涉及一种半导体发光元件用基板及一种半导体发光元件。本发明的半导体发光元件的制造方法包括:粒子排列步骤,使多个粒子(M)以单层排列在基板(S);粒子蚀刻步骤,以粒子(M)被蚀刻且基板(S)实质上未被蚀刻的条件,对排列的多个粒子(M)进行干式蚀刻而在粒子(M)间设置间隙;以及基板蚀刻步骤,将粒子蚀刻步骤后的多个粒子(M1)作为蚀刻掩膜对基板(S)进行干式蚀刻,而在基板(S)的一面(X)形成凹凸构造。

    分析用衬底
    7.
    发明公开
    分析用衬底 审中-实审

    公开(公告)号:CN112639449A

    公开(公告)日:2021-04-09

    申请号:CN201980057800.8

    申请日:2019-09-11

    Abstract: 本发明的分析用衬底具备:基材(10),至少第一面(10a)包含介电体或半导体;及金属膜(20),具有设置在基材(10)的第一面(10a)上的凸部(21)及凸部(22);凸部(21)的顶部(21a)的高度是金属膜(20)的表面高度分布中与基材(10)的距离最大的峰的高度,凸部(22)的顶部(22a)的高度是金属膜(20)的表面高度分布中与基材(10)的距离第二大的峰的高度,凸部(21)及凸部(22)的除槽区域(H3)以外的部分的宽度的平均值为200nm以下,所述槽区域(H3)是与基材(10)的距离最小的峰的高度。

    有机发光二极管及其制造方法、图像显示装置及照明装置

    公开(公告)号:CN103460797A

    公开(公告)日:2013-12-18

    申请号:CN201180063944.8

    申请日:2011-11-02

    Abstract: 本发明涉及有机发光二极管及其制造方法,该有机发光二极管的特征在于,至少依次层叠有阳极导电层、具有含有有机发光材料的发光层的有机EL层、和由Ag或Ag的含有率为70质量%以上的合金或者由Al或Al的含有率为70质量%以上的合金形成的阴极导电层,在前述阴极导电层的前述有机EL层侧的表面设置有多个凹部周期性地二维排列而成的二维点阵结构、或者设置有多个凸部周期性地二维排列而成的二维点阵结构,源自有机发光二极管的光的提取波长(nm)与前述二维点阵结构中的前述凹部或前述凸部的中心间的距离p(nm)在表示它们的关系的图中处于用特定的座标(例如A、B、C、D、E、F、G、H、I、J、A等)依次连接而成的直线包围的区域内,并且前述凹部的深度或前述凸部的高度为12nm以上且180nm以下。根据本发明,可以提供光提取效率优异的有机发光二极管及其制造方法、具备前述有机发光二极管的图像显示装置和照明装置。

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