半导体器件制造方法以及半导体器件

    公开(公告)号:CN103390604B

    公开(公告)日:2018-12-21

    申请号:CN201310177627.X

    申请日:2013-05-10

    Inventor: 成田博明

    Abstract: 本发明提供了一种半导体器件制造方法以及半导体器件,通过其能够轻松地识别无标签封装中的1引脚的位置。多个引线(LE)的后表面暴露于密封了半导体芯片(5)等的树脂密封主体(MO)的后表面上,进一步提供邻近1引脚(带有标号1的引线(LE))的图像识别区域(PRA),并且标识标志(PP)的后表面从图像识别区域(PRA)的密封主体(MO)的后表面露出。该标识标志(PP)由与多个引线(LE)相同的传导构件制成。

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