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公开(公告)号：CN101563026A
公开(公告)日：2009-10-21
申请号：CN200780047167.1
申请日：2007-12-12
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
IPC: A61B5/00
CPC classification number: G01N21/4795 , A61B5/0091 , A61B5/4312
Abstract: 一种用于对混浊媒质成像的成像系统包括照射所要成像的对象的辐射源。探测系统探测来自对象的辐射并且包括区分具有各个波长范围的辐射成分的分离模块。分析模块形成各个辐射成分的比较结果。根据各个辐射成分的比较结果重建图像数据集。该比较例如包括(i)高波长辐射成分与低波长辐射成分的水平之比，或者(ii)高波长辐射成分与探测到的辐射的水平的相对差，或者(iiii)高波长辐射成分与低波长辐射成分的水平的相对差。当在相应的造影剂浓度范围上该比较结果相对于其他波长范围更有益于其中一个波长范围时，获得了重建图像的良好对比度。因此，在比较中，波长范围之间的竞争使得该一个波长范围的强度(或者光子数)占优，使得该一个波长范围中的任何对比度不会受到对比度反转的影响。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN101563026B
公开(公告)日：2012-10-10
申请号：CN200780047167.1
申请日：2007-12-12
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
IPC: A61B5/00
CPC classification number: G01N21/4795 , A61B5/0091 , A61B5/4312
Abstract: 一种用于对混浊媒质成像的成像系统包括照射所要成像的对象的辐射源。探测系统探测来自对象的辐射并且包括区分具有各个波长范围的辐射成分的分离模块。分析模块形成各个辐射成分的比较结果。根据各个辐射成分的比较结果重建图像数据集。该比较例如包括(i)高波长辐射成分与低波长辐射成分的水平之比，或者(ii)高波长辐射成分与探测到的辐射的水平的相对差，或者(iiii)高波长辐射成分与低波长辐射成分的水平的相对差。当在相应的造影剂浓度范围上该比较结果相对于其他波长范围更有益于其中一个波长范围时，获得了重建图像的良好对比度。因此，在比较中，波长范围之间的竞争使得该一个波长范围的强度(或者光子数)占优，使得该一个波长范围中的任何对比度不会受到对比度反转的影响。
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公开(公告)号：CN101980656A
公开(公告)日：2011-02-23
申请号：CN200980111054.2
申请日：2009-03-20
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
CPC classification number: A61B5/4312 , A61B5/0091 , G01N21/4795 , G01N21/6428
Abstract: 提供了一种用于重构混浊介质内部的荧光图像的方法。该方法包括步骤：在测量体(4)中容纳向其施用了荧光对比剂的混浊介质(1)。荧光对比剂能够在用光照射时发射第一波长范围内的光。该方法还包括：通过随后利用来自多个不同源位置的光照射混浊介质(1)并且对于每个源位置在多个检测位置检测从混浊介质(1)发出的光，在多个不同的波长(λ1，...，λk)下执行衰减测量；根据衰减测量对于所述多个不同的波长重构作为混浊介质(1)内部的位置的函数的吸收特性(μa(r，λ))；对于第一波长范围的波长计算作为混浊介质(1)内部的位置的函数的吸收特性；通过随后利用来自所述多个源位置的使得荧光对比剂发射第一波长范围内的光的光照射混浊介质(1)并且对于每个源位置在所述多个检测位置检测从荧光对比剂发出的光，执行荧光测量；以及根据荧光测量使用计算的吸收特性重构混浊介质(1)内部荧光对比剂的空间分布的荧光图像。
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公开(公告)号：CN101827556A
公开(公告)日：2010-09-08
申请号：CN200880112167.X
申请日：2008-10-13
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
CPC classification number: G01N21/4795 , A61B5/0073 , A61B5/0091 , A61B5/4312 , A61B2562/146 , G01N2021/1787 , G01N2201/0826 , G01N2201/0833
Abstract: 提供一种用于成像光学混浊介质内部的设备(1)。该设备包括被构造为容纳用于检查的光学混浊介质和光学匹配介质的容器(3；103)，该光学匹配介质填充了容器(3；103)的内表面(6；106)与光学混浊介质之间的间隔。该设备包括至少一个生成将被耦合进入容器(3；103)的光的光源和至少一个用于探测从容器(3；103)发出的光的探测器。提供光学耦合到容器的内表面(6；106)的耦合表面(10；110)和光学耦合到光源和探测器的耦合构件(11；111)。耦合表面(10；110)和耦合构件(11；111)相对于彼此可移动到多个不同的位置并且被构造为在多个不同的位置建立从光源到容器的内表面(6；106)和从容器的内表面(6；106)到所述至少一个探测器的光学连接。
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公开(公告)号：CN101980656B
公开(公告)日：2013-12-04
申请号：CN200980111054.2
申请日：2009-03-20
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
CPC classification number: A61B5/4312 , A61B5/0091 , G01N21/4795 , G01N21/6428
Abstract: 本发明提供了一种用于重构混浊介质内部的荧光图像的方法。该方法包括步骤：在测量体(4)中容纳向其施用了荧光对比剂的混浊介质(1)。荧光对比剂能够在用光照射时发射第一波长范围内的光。该方法还包括：通过随后利用来自多个不同源位置的光照射混浊介质(1)并且对于每个源位置在多个检测位置检测从混浊介质(1)发出的光，在多个不同的波长(λ1，...，λk)下执行衰减测量；根据衰减测量对于所述多个不同的波长重构作为混浊介质(1)内部的位置的函数的吸收特性(μa(r，λ))；对于第一波长范围的波长计算作为混浊介质(1)内部的位置的函数的吸收特性；通过随后利用来自所述多个源位置的使得荧光对比剂发射第一波长范围内的光的光照射混浊介质(1)并且对于每个源位置在所述多个检测位置检测从荧光对比剂发出的光，执行荧光测量；以及根据荧光测量使用计算的吸收特性重构混浊介质(1)内部荧光对比剂的空间分布的荧光图像。
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公开(公告)号：CN101827556B
公开(公告)日：2013-06-19
申请号：CN200880112167.X
申请日：2008-10-13
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
CPC classification number: G01N21/4795 , A61B5/0073 , A61B5/0091 , A61B5/4312 , A61B2562/146 , G01N2021/1787 , G01N2201/0826 , G01N2201/0833
Abstract: 提供一种用于成像光学混浊介质内部的设备(1)。该设备包括被构造为容纳用于检查的光学混浊介质和光学匹配介质的容器(3；103)，该光学匹配介质填充了容器(3；103)的内表面(6；106)与光学混浊介质之间的间隔。该设备包括至少一个生成将被耦合进入容器(3；103)的光的光源和至少一个用于探测从容器(3；103)发出的光的探测器。提供光学耦合到容器的内表面(6；106)的耦合表面(10；110)和光学耦合到光源和探测器的耦合构件(11；111)。耦合表面(10；110)和耦合构件(11；111)相对于彼此可移动到多个不同的位置并且被构造为在多个不同的位置建立从光源到容器的内表面(6；106)和从容器的内表面(6；106)到所述至少一个探测器的光学连接。
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