公开(公告)号：CN115060992A

公开(公告)日：2022-09-16

申请号：CN202210648806.6

申请日：2022-06-09

Applicant: 福州大学

Inventor： 林琼斌 ,  詹一雄 ,  詹银 ,  代妍妍 ,  林传伟 ,  王武 ,  蔡逢煌

IPC: G01R31/00

Abstract: 本发明涉及一种MMC子模块电容老化检测方法，包括：1）采集子模块的开关状态；2）在待测模块和参考模块状态相同时，采集待测模块和参考模块电容初始电压，并将待测模块和参考模块同时接入系统；3）等待控制信号变化，采集待测模块和参考模块电容电压波形；4）将采集的待测模块和参考模块电容电压波形进行多层小波包分解，并计算小波包分解后高频能量比值KR；5）采集待测模块和参考模块的电容电压，并计算电容电压变化比值KC；6）判断KC≤0.95或KR≥2是否成立，是则判断待测模块电容老化失效，切除待测模块，系统接入冗余模块，否则判断待测模块电容未老化失效，排序模块电压，并进行下一模块检测。该方法有利于电容老化检测的可靠性和便捷性。

公开(公告)号：CN115060992B

公开(公告)日：2024-06-25

申请号：CN202210648806.6

申请日：2022-06-09

Applicant: 福州大学

Inventor： 林琼斌 ,  詹一雄 ,  詹银 ,  代妍妍 ,  林传伟 ,  王武 ,  蔡逢煌

IPC: G01R31/00

Abstract: 本发明涉及一种MMC子模块电容老化检测方法，包括：1）采集子模块的开关状态；2）在待测模块和参考模块状态相同时，采集待测模块和参考模块电容初始电压，并将待测模块和参考模块同时接入系统；3）等待控制信号变化，采集待测模块和参考模块电容电压波形；4）将采集的待测模块和参考模块电容电压波形进行多层小波包分解，并计算小波包分解后高频能量比值KR；5）采集待测模块和参考模块的电容电压，并计算电容电压变化比值KC；6）判断KC≤0.95或KR≥2是否成立，是则判断待测模块电容老化失效，切除待测模块，系统接入冗余模块，否则判断待测模块电容未老化失效，排序模块电压，并进行下一模块检测。该方法有利于电容老化检测的可靠性和便捷性。