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公开(公告)号：CN108124079A
公开(公告)日：2018-06-05
申请号：CN201711181163.4
申请日：2017-11-23
Applicant: 精工爱普生株式会社
Inventor： 笠原秀明
CPC classification number: H04N1/4076 , H04N1/6019 , H04N5/217 , H04N5/2176 , H04N5/361
Abstract: 本发明涉及阴影校正装置、电子设备和阴影校正方法。阴影校正装置具备：基准取得部，取得测色基准物的拍摄图像的基准像素值W；对象像素值取得部，取得测量对象的拍摄图像的像素值S；移位值取得部，取得基于基准像素值W的移位值k2；查找表，存储有对应W>>k2的变量G2(＝2k1/W>>k2)；以及算出部，从查找表中读出与基准像素值W及移位值k2对应的变量G2，并根据下述式(1)计算测量对象的拍摄图像的各像素的阴影校正值Rdec：Rdec＝(F·G2)＞＞(k1+k2)+B… (1)其中，F＝S·(A-B)+{W＞＞1} A、B及k1是整数常数。
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公开(公告)号：CN114660798B
公开(公告)日：2023-12-12
申请号：CN202111551239.4
申请日：2021-12-17
Applicant: 精工爱普生株式会社
Abstract: 本发明提供一种在波长可变滤光器中使变更透过光的波长的控制稳定的波长可变滤光器及其控制方法以及记录介质。本发明对具备对置的两个反射膜、和改变它们的相对位置的致动器部的波长可变滤光器进行控制。致动器部具备根据两个反射膜之间的目标距离而被驱动的第一致动器、和根据目标距离与两个反射膜的距离的检测值而被反馈控制的第二致动器。控制方法具备：(a)接收两个反射膜间的新的目标距离的工序；(b)根据新的目标距离来驱动第一致动器的工序；(c)根据新的目标距离和两个反射膜的距离的检测值来反馈控制第二致动器的工序。在被预先规定的条件被满足的情况下，在工序(b)开始后、且经过了被预先规定的阈值时间后，开始工序(c)。
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公开(公告)号：CN108124079B
公开(公告)日：2021-07-23
申请号：CN201711181163.4
申请日：2017-11-23
Applicant: 精工爱普生株式会社
Inventor： 笠原秀明
Abstract: 本发明涉及阴影校正装置、电子设备和阴影校正方法。阴影校正装置具备：基准取得部，取得测色基准物的拍摄图像的基准像素值W；对象像素值取得部，取得测量对象的拍摄图像的像素值S；移位值取得部，取得基于基准像素值W的移位值k2；查找表，存储有对应W>>k2的变量G2(＝2k1/W>>k2)；以及算出部，从查找表中读出与基准像素值W及移位值k2对应的变量G2，并根据下述式(1)计算测量对象的拍摄图像的各像素的阴影校正值Rdec：Rdec＝(F·G2)＞＞(k1+k2)+B…(1)其中，F＝S·(A‑B)+{W＞＞1}A、B及k1是整数常数。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN110658132B
公开(公告)日：2023-09-26
申请号：CN201910569995.6
申请日：2019-06-27
Applicant: 精工爱普生株式会社
Inventor： 笠原秀明
Abstract: 一种测量装置、电子设备以及测量方法，其目的在于解决在对测量对象的表面进行分光测量时，反射光的光量由于测量对象的凹凸而变化，从而测量结果会出现偏差。所述测量装置具备：多个光源，朝向测量对象照射光，并且具有相同的发光光谱；分光测量部，对被所述测量对象反射的光进行分光测量；光源切换部，切换多个所述光源中点亮和熄灭的所述光源的组合；以及运算部，根据在以多个所述组合使多个所述光源点亮和熄灭时，通过所述分光测量部获得的分光测量结果，来计算所述测量对象的分光反射率。
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公开(公告)号：CN114660798A
公开(公告)日：2022-06-24
申请号：CN202111551239.4
申请日：2021-12-17
Applicant: 精工爱普生株式会社
Abstract: 本发明提供一种在波长可变滤光器中使变更透过光的波长的控制稳定的波长可变滤光器及其控制方法以及记录介质。本发明对具备对置的两个反射膜、和改变它们的相对位置的致动器部的波长可变滤光器进行控制。致动器部具备根据两个反射膜之间的目标距离而被驱动的第一致动器、和根据目标距离与两个反射膜的距离的检测值而被反馈控制的第二致动器。控制方法具备：(a)接收两个反射膜间的新的目标距离的工序；(b)根据新的目标距离来驱动第一致动器的工序；(c)根据新的目标距离和两个反射膜的距离的检测值来反馈控制第二致动器的工序。在被预先规定的条件被满足的情况下，在工序(b)开始后、且经过了被预先规定的阈值时间后，开始工序(c)。
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公开(公告)号：CN110658132A
公开(公告)日：2020-01-07
申请号：CN201910569995.6
申请日：2019-06-27
Applicant: 精工爱普生株式会社
Inventor： 笠原秀明
Abstract: 一种测量装置、电子设备以及测量方法，其目的在于解决在对测量对象的表面进行分光测量时，反射光的光量由于测量对象的凹凸而变化，从而测量结果会出现偏差。所述测量装置具备：多个光源，朝向测量对象照射光，并且具有相同的发光光谱；分光测量部，对被所述测量对象反射的光进行分光测量；光源切换部，切换多个所述光源中点亮和熄灭的所述光源的组合；以及运算部，根据在以多个所述组合使多个所述光源点亮和熄灭时，通过所述分光测量部获得的分光测量结果，来计算所述测量对象的分光反射率。
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