公开(公告)号：CN100474935C

公开(公告)日：2009-04-01

申请号：CN200380107363.5

申请日：2003-12-11

Applicant: 索尼株式会社

Inventor： 米田丰 ,  小矶学

IPC: H04N9/07

CPC classification number: H04N5/3675 ,  H04N9/045

Abstract: 像素缺陷检测/校正设备，可校正缺陷像素的数目不受记录单元的容量限制，并可以检测/校正延迟缺陷，该设备包括：色差和亮度计算块(1-2)，计算邻近像素和缺陷判断像素的色差绝对值、色差和亮度数据；块(1-3)，基于从色差和亮度算出的值而检测各种数据的最大和最小值；色差内插值计算块(1-4)和亮度内插值计算块(1-5)，获得缺陷判断像素的色差内插值和亮度内插值；缺陷判断和内插处理块(1-6)，用于使用多种缺陷检测方法，在各种缺陷检测方法下同时执行缺陷判断像素的缺陷判断，并且如果找到缺陷像素，根据相关缺陷检测方法执行内插处理；和内插值选择块(1-7)，选择被判断为有缺陷的像素的最终输出值。

公开(公告)号：CN1732693A

公开(公告)日：2006-02-08

申请号：CN200380107363.5

申请日：2003-12-11

Applicant: 索尼株式会社

Inventor： 米田丰 ,  小矶学

IPC: H04N9/07

CPC classification number: H04N5/3675 ,  H04N9/045

Abstract: 像素缺陷检测/校正设备，可校正缺陷像素的数目不受记录单元的容量限制，并可以检测/校正延迟缺陷，该设备包括：色差和亮度计算块(1－2)，计算邻近像素和缺陷判断像素的色差绝对值、色差和亮度数据；块(1－3)，基于从色差和亮度算出的值而检测各种数据的最大和最小值；色差内插值计算块(1－4)和亮度内插值计算块(1－5)，获得缺陷判断像素的色差内插值和亮度内插值；缺陷判断和内插处理块(1－6)，用于使用多种缺陷检测方法，在各种缺陷检测方法下同时执行缺陷判断像素的缺陷判断，并且如果找到缺陷像素，根据相关缺陷检测方法执行内插处理；和内插值选择块(1－7)，选择被判断为有缺陷的像素的最终输出值。