设有光电二极管的半导体装置及其制造方法和光盘装置

    公开(公告)号:CN101764138A

    公开(公告)日:2010-06-30

    申请号:CN200910266364.3

    申请日:2009-12-24

    Abstract: 本发明提供设有光电二极管的半导体装置及其制造方法和光盘装置。该半导体装置包括:P型半导体基板;在P型半导体基板上形成的第一P型半导体层;在第一P型半导体层上形成并且具有比第一P型半导体层低的P型杂质浓度的第二P型半导体层;在第二P型半导体层上形成的将要形成阴极区域的N型半导体层;通过在第二P型半导体层的部分区域中扩散P型杂质而形成的第一P型扩散层;第二P型扩散层,在邻近第一P型扩散层的下方,在第二P型半导体层中扩散P型杂质形成,并且具有比第一P型扩散层低的P型杂质浓度;以及以将N型半导体层和第一P型扩散层彼此隔离的这样的方式形成的光电二极管。

    半导体装置及半导体装置制造方法

    公开(公告)号:CN101546793A

    公开(公告)日:2009-09-30

    申请号:CN200910132306.1

    申请日:2009-03-25

    Abstract: 本发明公开了半导体装置及半导体装置制造方法,该半导体装置制造方法包括如下步骤:在含有光电二极管的基板的上表面上形成树脂层,所述树脂层未覆盖所述光电二极管的光接收区域;在所述树脂层中形成包围着所述光接收区域的至少一个凹槽;并且随后,通过将所述基板装填至模具中并使用模塑树脂填充所述模具,来模压密封所述光电二极管。在该模压密封步骤中,能够防止用来填充模具的模塑树脂流到光电二极管的光接收区域中。结果,能够防止由于模塑树脂流到光接收区域中而导致的PDIC的感光度的降低。因此,能够提高产率。

    半导体装置
    3.
    发明授权

    公开(公告)号:CN103594526B

    公开(公告)日:2016-06-22

    申请号:CN201210597892.9

    申请日:2009-03-25

    Abstract: 本发明公开的半导体装置包括:基板,在所述基板上形成有配线层、电极焊盘和光电二极管的光接收区域,所述配线层位于所述光接收区域的周围,所述电极焊盘位于所述配线层上;在所述基板的上表面上形成的树脂层,所述树脂层包括位于所述光接收区域的周围的至少一个凹槽,并保留在所述基板的所述上表面上的除所述光接收区域、所述至少一个凹槽和所述电极焊盘之外的区域上,且所述树脂层具有耐热和遮光能力,其中,在所述光接收区域上方存在有树脂膜。结果,能够防止由于模塑树脂流到光接收区域中而导致的PDIC的感光度的降低。因此,能够提高产率。

    设有光电二极管的半导体装置及其制造方法和光盘装置

    公开(公告)号:CN101764138B

    公开(公告)日:2013-02-13

    申请号:CN200910266364.3

    申请日:2009-12-24

    Abstract: 本发明提供设有光电二极管的半导体装置及其制造方法和光盘装置。该半导体装置包括:P型半导体基板;在P型半导体基板上形成的第一P型半导体层;在第一P型半导体层上形成并且具有比第一P型半导体层低的P型杂质浓度的第二P型半导体层;在第二P型半导体层上形成的将要形成阴极区域的N型半导体层;通过在第二P型半导体层的部分区域中扩散P型杂质而形成的第一P型扩散层;第二P型扩散层,在邻近第一P型扩散层的下方,在第二P型半导体层中扩散P型杂质形成,并且具有比第一P型扩散层低的P型杂质浓度;以及以将N型半导体层和第一P型扩散层彼此隔离的这样的方式形成的光电二极管。

    半导体装置
    5.
    发明公开

    公开(公告)号:CN103594526A

    公开(公告)日:2014-02-19

    申请号:CN201210597892.9

    申请日:2009-03-25

    Abstract: 本发明公开的半导体装置包括:基板,在所述基板上形成有配线层、电极焊盘和光电二极管的光接收区域,所述配线层位于所述光接收区域的周围,所述电极焊盘位于所述配线层上;在所述基板的上表面上形成的树脂层,所述树脂层包括位于所述光接收区域的周围的至少一个凹槽,并保留在所述基板的所述上表面上的除所述光接收区域、所述至少一个凹槽和所述电极焊盘之外的区域上,且所述树脂层具有耐热和遮光能力,其中,在所述光接收区域上方存在有树脂膜。结果,能够防止由于模塑树脂流到光接收区域中而导致的PDIC的感光度的降低。因此,能够提高产率。

    半导体装置及半导体装置制造方法

    公开(公告)号:CN101546793B

    公开(公告)日:2013-01-02

    申请号:CN200910132306.1

    申请日:2009-03-25

    Abstract: 本发明公开了半导体装置及半导体装置制造方法,该半导体装置制造方法包括如下步骤:在含有光电二极管的基板的上表面上形成树脂层,所述树脂层未覆盖所述光电二极管的光接收区域;在所述树脂层中形成包围着所述光接收区域的至少一个凹槽;并且随后,通过将所述基板装填至模具中并使用模塑树脂填充所述模具,来模压密封所述光电二极管。在该模压密封步骤中,能够防止用来填充模具的模塑树脂流到光电二极管的光接收区域中。结果,能够防止由于模塑树脂流到光接收区域中而导致的PDIC的感光度的降低。因此,能够提高产率。

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