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发明公开
光学检测器审中-实审

公开(公告)号：CN115701287A

公开(公告)日：2023-02-07

申请号：CN202180037124.5

申请日：2021-05-18

Applicant: 艾迈斯-欧司朗股份有限公司

Inventor： 谢文忠 , A.沃克 , D.甘佩尔 , M.马斯科托 , E.J.洛斯

IPC: G01J3/44 , G01J3/28 , G01N21/64 , G01N21/53 , G01N21/55 , G01N21/65

Abstract: 一种专用集成电路(ASIC)上的光学检测器(1)，包括：至少一个光电二极管(5)，用于接收入射光和被配置为提供至少一个二极管信号；调制器(2)，被配置为提供AC驱动信号和提供与AC驱动信号相关联的参考信号；以及锁定放大器(6)，被配置为从所述至少一个光电二极管(5)接收所述至少一个二极管信号和从调制器(2)接收参考信号，以及使用参考信号确定所述至少一个二极管信号的相位和幅度中的至少一个。

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