一种红外探测器响应率参数的标定方法

    公开(公告)号:CN102322948B

    公开(公告)日:2013-12-11

    申请号:CN201110233173.4

    申请日:2011-08-15

    Abstract: 本发明公开了一种红外探测器绝对响应率的标定方法及装置,利用黑体源和窄带滤光片组合的方法,得到了探测器在指定波长下的绝对响应率参数。本方法采用黑体源作为标定光源,确保了空间输出光斑的稳定性和均匀性,在标定测量中不需要对探测器的放置位置进行精密调节,大大提高了批量探测器的标定效率和准确性,同时通过理论计算的方法得到了辐照到探测器表面的光功率参数,克服了弱小光信号功率测量中引入的误差。本方法通过改变滤光片的波长参数和黑体温度,可适用于探测器在多种波长处的参数标定,具有广泛地适用性。

    一种材料表面漫反射特性的测量装置

    公开(公告)号:CN103076305B

    公开(公告)日:2015-03-25

    申请号:CN201210591001.9

    申请日:2012-12-28

    Abstract: 本发明公开了一种基于环形光电探测器阵列用于测量材料表面漫反射特征的测量装置,包括准直光源、旋转台、若干只光电探测器和信号记录设备,若干只光电探测器布置在一只圆环固定架的架体上,起始测量线和终止测量线之间的夹角为270°;准直光源设置在圆环固定架的架体上,出射光方向正对圆环固定架的圆心,且出射光方向与起始测量线之间的夹角为90°;旋转台设置在圆环固定架的中部,并可带动待测量材料绕旋转台转动角度。该装置具有结构紧凑,可靠性高、使用方便、对光源的稳定性要求不高等特点。

    一种光电探测器绝对光谱响应率的标定方法

    公开(公告)号:CN102384761B

    公开(公告)日:2013-08-14

    申请号:CN201110233175.3

    申请日:2011-08-15

    Abstract: 本发明公开了一种光电探测器绝对光谱响应率的标定方法,利用宽谱光源分光法测量光电探测器在某个光谱波段内的相对响应系数,而采用在该波段内稳定输出的激光源测量得到光电探测器的绝对响应率,再根据测量得到相对响应系数得到整个光谱波段内的绝对响应率值,从而得到探测器工作波长的绝对响应率值。该方法克服了现有绝对标定方法中由于宽谱光源分光后功率太弱的问题,减小了标定不确定度,可用于紫外、可见光和红外波段。

    一种宽温环境下中红外光信号强度的测量方法

    公开(公告)号:CN103076088A

    公开(公告)日:2013-05-01

    申请号:CN201210591083.7

    申请日:2012-12-28

    Abstract: 一种宽温环境下中红外光信号强度的测量方法,首先建立测量装置,包括中红外光导探测器、驱动电路和信号采集记录仪,其中驱动电路包括仪表放大器单元和恒流源单元;其次测量得到中红外光导探测器在应用环境温度下的暗电阻值和响应率值,并确定驱动电路中配平电阻和放大倍数参数;最后再根据电压信号及监测的工作温度,计算得到中红外光信号强度。本发明根据每只探测器在宽温范围端点的暗电阻值、工作电压等参数,获得配平电阻和电路放大倍数的最优解,提高了恒流源式中红外探测电路的输出信号幅度和测量动态范围,具有步骤简洁、实现方便的特点,可用于中红外探测电路的批量设计。

    一种单路光纤的冲击波走时参数测量方法和装置

    公开(公告)号:CN102322936A

    公开(公告)日:2012-01-18

    申请号:CN201110233255.9

    申请日:2011-08-15

    Abstract: 本发明公开了一种单路光纤的爆炸冲击波走时参数的测量方法和装置。在冲击波传播通道上布置一根传输光纤,传输光纤上按照一定的间隔布置由多只冲击敏感单元,传输光纤的一端通过一分二光纤耦合器与重频脉冲激光器和光电探测单元连接,另一端裸露,形成端面反射。通过记录冲击波到达传感器时的重频脉冲序列信号的畸变时刻和测量传感器之间的距离,计算得到冲击波在传感器之间的传播平均速度,其中冲击敏感单元为光纤圈传感头或预切割裸光纤传感头等。本发明实现了MPa级及MPa级以上压力的冲击波走时参数测量并具有结构简单,制作方便、成本低等特点,可大大降低了实验费用。

    一种冲击波走时参数测量方法和装置

    公开(公告)号:CN102322937B

    公开(公告)日:2013-06-12

    申请号:CN201110233272.2

    申请日:2011-08-15

    Abstract: 一种用于基于光纤弯曲传感器的爆炸冲击波走时参数的测量方法和装置,在冲击波传播方向布置多只光纤弯曲传感器,通过记录冲击波到达传感器时的脉冲信号和测量传感器之间的距离,计算得到冲击波在传感器之间的传播平均速度。测量装置包括光纤弯曲传感器和信号记录设备,光纤弯曲传感器由光纤圈、传输光纤、光源、光电探测器和信号放大处理单元组成,其中光纤圈由裸光纤弯曲而成。本发明实现了MPa级及MPa级以上压力的冲击波走时参数测量并具有结构简单,制作方便、成本低等特点,可大大降低了实验费用,并克服了冲击波在固体介质中传播时对空气中传播走时参数测量的影响,提高了测量准确度。

    一种材料表面漫反射特性的测量装置

    公开(公告)号:CN103076305A

    公开(公告)日:2013-05-01

    申请号:CN201210591001.9

    申请日:2012-12-28

    Abstract: 本发明公开了一种基于环形光电探测器阵列用于测量材料表面漫反射特征的测量装置,包括准直光源、旋转台、若干只光电探测器和信号记录设备,若干只光电探测器布置在一只圆环固定架的架体上,起始测量线和终止测量线之间的夹角为270°;准直光源设置在圆环固定架的架体上,出射光方向正对圆环固定架的圆心,且出射光方向与起始测量线之间的夹角为90°;旋转台设置在圆环固定架的中部,并可带动待测量材料绕旋转台转动角度。该装置具有结构紧凑,可靠性高、使用方便、对光源的稳定性要求不高等特点。

    一种宽温环境下中红外光信号强度的测量方法

    公开(公告)号:CN103076088B

    公开(公告)日:2015-02-25

    申请号:CN201210591083.7

    申请日:2012-12-28

    Abstract: 一种宽温环境下中红外光信号强度的测量方法,首先建立测量装置,包括中红外光导探测器、驱动电路和信号采集记录仪,其中驱动电路包括仪表放大器单元和恒流源单元;其次测量得到中红外光导探测器在应用环境温度下的暗电阻值和响应率值,并确定驱动电路中配平电阻和放大倍数参数;最后再根据电压信号及监测的工作温度,计算得到中红外光信号强度。本发明根据每只探测器在宽温范围端点的暗电阻值、工作电压等参数,获得配平电阻和电路放大倍数的最优解,提高了恒流源式中红外探测电路的输出信号幅度和测量动态范围,具有步骤简洁、实现方便的特点,可用于中红外探测电路的批量设计。

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