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公开(公告)号：CN1982940B
公开(公告)日：2010-10-13
申请号：CN200610173288.8
申请日：2006-12-15
Applicant: 西门子公司
Inventor： M·维德尔
CPC classification number: G02B21/002 , A61B5/0059 , A61B5/0064 , A61B5/0071 , A61B5/444 , G01B11/303 , G01N21/6428 , G01N21/645 , G01N21/94 , G02B21/16 , G03B21/008
Abstract: 本发明涉及一种可视化装置，具有被构造用于对准位置地进行投影的投影机、被构造用于接收位置说明和所属的位置特定的对象特性信息的数据输入端和控制装置，所述控制装置在输入侧与数据输入端连接而在输出侧与投影机连接并且被构造用于如此控制投影机，使得投影机对准位置地投影由数据输入端所接收的位置特定的对象特性信息。本发明还涉及带有这种可视化装置的扫描装置，包含初级辐射源、次级辐射探测器和分析装置，所述次级辐射探测器探测从对象上由于初级辐射的射入所产生的次级辐射，所述分析装置根据通过次级辐射探测器的探测来确定位置说明和所属的位置特定的对象特性信息并且向可视化装置的数据输入端传输。
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公开(公告)号：CN1982940A
公开(公告)日：2007-06-20
申请号：CN200610173288.8
申请日：2006-12-15
Applicant: 西门子公司
Inventor： M·维德尔
CPC classification number: G02B21/002 , A61B5/0059 , A61B5/0064 , A61B5/0071 , A61B5/444 , G01B11/303 , G01N21/6428 , G01N21/645 , G01N21/94 , G02B21/16 , G03B21/008
Abstract: 本发明涉及一种可视化装置，具有被构造用于对准位置地进行投影的投影机、被构造用于接收位置说明和所属的位置特定的对象特性信息的数据输入端和控制装置，所述控制装置在输入侧与数据输入端连接而在输出侧与投影机连接并且被构造用于如此控制投影机，使得投影机对准位置地投影由数据输入端所接收的位置特定的对象特性信息。本发明还涉及带有这种可视化装置的扫描装置，包含初级辐射源、次级辐射探测器和分析装置，所述次级辐射探测器探测从对象上由于初级辐射的射入所产生的次级辐射，所述分析装置根据通过次级辐射探测器的探测来确定位置说明和所属的位置特定的对象特性信息并且向可视化装置的数据输入端传输。
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公开(公告)号：CN1991435B
公开(公告)日：2010-06-09
申请号：CN200610064159.5
申请日：2006-12-15
Applicant: 西门子公司
Inventor： M·维德尔
CPC classification number: G01N21/4795 , A61B5/0059 , A61B5/0064 , G01N21/6428 , G01N21/6456 , G01N2021/1787 , G01N2201/06113 , G01N2201/0636 , G01N2201/105
Abstract: 本发明涉及一种用于尤其光学扫描特别是不平的表面的扫描设备。所述扫描设备包括电磁初级辐射源、为偏转来自初级辐射源的初级辐射而设立的可控射束偏转设备、和探测器，所述探测器为探测通过初级辐射射到对象上而产生的二次辐射被设立。通过使用可控初级辐射，能够准确地照射对象的要成像的点。因此成像分辨率基本上由初级射线束的范围或者扩展确定。初级射线束同时也确定要成像的点的几何位置，使得可以去掉成像光学器件和像素化的二次辐射探测器。去掉成像光学器件极大地提高了景深清晰度，所述景深清晰度仅尚由初级辐射的扩展限制。由此可以在最大程度上可变地调整在扫描设备和要被扫描的对象之间的距离。
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公开(公告)号：CN1991435A
公开(公告)日：2007-07-04
申请号：CN200610064159.5
申请日：2006-12-15
Applicant: 西门子公司
Inventor： M·维德尔
CPC classification number: G01N21/4795 , A61B5/0059 , A61B5/0064 , G01N21/6428 , G01N21/6456 , G01N2021/1787 , G01N2201/06113 , G01N2201/0636 , G01N2201/105
Abstract: 本发明涉及一种用于尤其光学扫描特别是不平的表面的扫描设备。所述扫描设备包括电磁初级辐射源、为偏转来自初级辐射源的初级辐射而设立的可控射束偏转设备、和探测器，所述探测器为探测通过初级辐射射到对象上而产生的二次辐射被设立。通过使用可控初级辐射，能够准确地照射对象的要成像的点。因此成像分辨率基本上由初级射线束的范围或者扩展确定。初级射线束同时也确定要成像的点的几何位置，使得可以去掉成像光学器件和像素化的二次辐射探测器。去掉成像光学器件极大地提高了景深清晰度，所述景深清晰度仅尚由初级辐射的扩展限制。由此可以在最大程度上可变地调整在扫描设备和要被扫描的对象之间的距离。
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