公开(公告)号：CN101512385B

公开(公告)日：2012-06-20

申请号：CN200780033596.3

申请日：2007-07-03

Applicant: 通用电气公司

Inventor： 杰弗里·哈丁

IPC: G01V5/00

CPC classification number: G01N23/201 ,  G01V5/0025

Abstract: 描述了一种用于生成改进的衍射略图的系统。所述系统包括：至少一个x射线源，配置为生成x射线；以及主准直仪，输出第一x射线束到第一焦点和输出第二x射线束到第二焦点。所述主准直仪从所述x射线生成所述第一x射线束和第二x射线束。所述系统还包括：容器；以及第一散射检测器，配置为检测在所述第一x射线束和所述容器相交时生成的第一组散射射线，以及检测在所述第二x射线束和所述容器相交时生成的第二组散射射线。由所述第一散射检测器检测的第一组散射射线的散射角最多是由所述第一散射检测器检测的第二组散射射线的散射角的一半。

公开(公告)号：CN101512385A

公开(公告)日：2009-08-19

申请号：CN200780033596.3

申请日：2007-07-03

Applicant: 通用电气公司

Inventor： 杰弗里·哈丁

IPC: G01V5/00

CPC classification number: G01N23/201 ,  G01V5/0025

Abstract: 描述了一种用于生成改进的衍射略图的系统。所述系统包括：至少一个x射线源，配置为生成x射线；以及主准直仪，输出第一x射线束到第一焦点和输出第二x射线束到第二焦点。所述主准直仪从所述x射线生成所述第一x射线束和第二x射线束。所述系统还包括：容器；以及第一散射检测器，配置为检测在所述第一x射线束和所述容器相交时生成的第一组散射射线，以及检测在所述第二x射线束和所述容器相交时生成的第二组散射射线。由所述第一散射检测器检测的第一组散射射线的散射角最多是由所述第一散射检测器检测的第二组散射射线的散射角的一半。

公开(公告)号：CN101443655A

公开(公告)日：2009-05-27

申请号：CN200780017040.5

申请日：2007-04-18

Applicant: 通用电气公司

Inventor： 杰弗里·哈丁

IPC: G01N23/20 ,  G01V5/00

CPC classification number: G01N23/207 ,  G01N2223/639 ,  G01N2223/643

Abstract: 本发明描述确定物质类型的方法和处理器。该方法包括根据衍射谱中探测x射线散射光子数的测量比率确定物质的有效原子序数。该方法特别用于机场行李的筛检，例如用于发现爆炸物。