公开(公告)号：CN111383208B

公开(公告)日：2023-08-29

申请号：CN201911265726.7

申请日：2019-12-11

Applicant: 通用电气公司

Inventor： 王光华 ,  M.华莱士 ,  B.P.布莱

IPC: G06T7/00

Abstract: 一种检查系统，包括光源、成像装置和一个或多个处理器。光源配置成将具有受控光特性的照明光导向工件的热障涂层的表面。成像装置配置成通过监测反射离开热障涂层的表面的照明光来捕获该表面的图像数据。一个或多个处理器可操作地连接到成像装置，并且配置成通过将图像数据与描绘第一指定微结构的参考图像数据进行比较来分析表面的图像数据。第一指定微结构具有相关联的涂层质量值。一个或多个处理器配置成基于所述分析来确定工件的热障涂层具有第一指定微结构。

公开(公告)号：CN111383208A

公开(公告)日：2020-07-07

申请号：CN201911265726.7

申请日：2019-12-11

Applicant: 通用电气公司

Inventor： 王光华 ,  M.华莱士 ,  B.P.布莱

IPC: G06T7/00

Abstract: 一种检查系统，包括光源、成像装置和一个或多个处理器。光源配置成将具有受控光特性的照明光导向工件的热障涂层的表面。成像装置配置成通过监测反射离开热障涂层的表面的照明光来捕获该表面的图像数据。一个或多个处理器可操作地连接到成像装置，并且配置成通过将图像数据与描绘第一指定微结构的参考图像数据进行比较来分析表面的图像数据。第一指定微结构具有相关联的涂层质量值。一个或多个处理器配置成基于所述分析来确定工件的热障涂层具有第一指定微结构。