校准波长调制光谱设备的方法

    公开(公告)号:CN102177422B

    公开(公告)日:2014-07-09

    申请号:CN200980140602.4

    申请日:2009-09-17

    CPC classification number: G01J3/4338

    Abstract: 本发明公开校准配置成测量样本气体中的分析物的浓度的波长调制光谱设备的若干方法。每种方法允许使用比较安全的气体的校准和重新校准,而不管能够确定其分析物的浓度的样本气体是不是危险气体。在本发明的一个实施例中,样本气体特定的校准通过下列步骤来实现:确定样本气体的第一斜率系数和校准函数,此后比例因数能够根据第一斜率系数和相同或不同的样本气体的第二斜率系数来确定,并且用于后续校准(或者重新校准),以便缩放校准函数。在本发明的其它实施例中,实现不是样本气体特定的校准,以便允许确定可变气体成分和恒定气体成分中的分析物浓度。

    校准波长调制光谱设备的方法

    公开(公告)号:CN102177422A

    公开(公告)日:2011-09-07

    申请号:CN200980140602.4

    申请日:2009-09-17

    CPC classification number: G01J3/4338

    Abstract: 公开校准配置成测量样本气体中的分析物的浓度的波长调制光谱设备的若干方法。每种方法允许使用比较安全的气体的校准和重新校准,而不管能够确定其分析物的浓度的样本气体是不是危险气体。在本发明的一个实施例中,样本气体特定的校准通过下列步骤来实现:确定样本气体的第一斜率系数和校准函数,此后比例因数能够根据第一斜率系数和相同或不同的样本气体的第二斜率系数来确定,并且用于后续校准(或者重新校准),以便缩放校准函数。在本发明的其它实施例中,实现不是样本气体特定的校准,以便允许确定可变气体成分和恒定气体成分中的分析物浓度。

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