액체 내 오염물질의 화학적 원소 분석장치 및 분석방법
    1.
    发明申请
    액체 내 오염물질의 화학적 원소 분석장치 및 분석방법 审中-公开
    化学元素分析装置及液体中污染物的方法

    公开(公告)号:WO2016085313A2

    公开(公告)日:2016-06-02

    申请号:PCT/KR2015/012911

    申请日:2015-11-30

    CPC classification number: E21B49/08 G01N21/31 G01N21/39 G01N33/18

    Abstract: 본 발명은 액체 내 오염물질의 화학적 원소 분석장치 및 분석방법에 관한 것이다. 본 발명에 따른 액체 내 오염물질의 화학적 원소 분석장치는, 샘플링된 액상의 시료(1)가 저장되는 시료 저장부(10), 레이저빔(21: 21a, 21b, 21c)을 발진하여, 시료 저장부(10)로부터 분사되는 시료(1: 1a, 1b, 1c)에 레이저빔(21)을 조사하는 레이저부(20), 및 레이저빔(21)이 시료(1)에 조사되어 발생한 플라즈마 빛(31: 31a, 31b, 31c)을 수집하여 플라즈마 빛(31)의 스펙트럼을 계측하는 스펙트로미터(30)를 포함하는 것을 특징으로 한다.

    Abstract translation: 本发明涉及液体中的污染物的化学元素分析装置和方法。 根据本发明的用于液体污染物的化学元素分析装置包括:样品存储单元(10),用于存储取样的液体样品(1); 激光单元(20),用于发射激光束(21:21a,21b,21c),并将激光束(21)照射到从样品存储单元(10)喷射的样品(1:1a,1b,1c)上; 以及用于收集通过向样品(1)照射激光束而产生的等离子体光(31:31a,31b,31c)并测量等离子体光(31)的光谱的光谱仪(30)。

    기화-전자 이온화기 및 레이저 이온화기를 포함하는 에어로졸 질량분석기
    3.
    发明申请
    기화-전자 이온화기 및 레이저 이온화기를 포함하는 에어로졸 질량분석기 审中-公开
    包含蒸发电离离子和激光离子的气溶胶质谱仪

    公开(公告)号:WO2015122586A1

    公开(公告)日:2015-08-20

    申请号:PCT/KR2014/008163

    申请日:2014-09-01

    CPC classification number: H01J49/161 H01J49/0445 H01J49/107 H01J49/147

    Abstract: 본 발명은 기화-전자 이온화기 및 레이저 이온화기를 포함하는 에어로졸 질량분석기에 관한 것으로 입자가 소스 장치, 압력 유지 장치 및 이온화 장치를 포함하는 에어로졸 질량분석기에서 이온화 장치는 이온화 장치에 도달한 고체 또는 액체인 에어로졸 입자를 기체로 기화시키는 증발기, 및 상기 집중부의 외측에 구비되어 기체의 에어로졸 입자를 이온화시키는 전자 총을 포함하는 기화-전자 이온화기를 포함하고; 이온화 장치의 하측에 구비되며 레이저 빔을 광 집속 렌즈로 반사하는 반사판, 및 레이저 빔을 이온화 장치 중앙에 집광시켜 이온화 장치에 도달한 고체 또는 액체인 에어로졸 입자를 기화 및 이온화시키는 광 집속 렌즈를 포함하는 레이저 이온화기를 포함함으로써, 분자 수준의 화학 조성, 중금속, 미네랄, 내화성 성분 등을 하나의 장치로 모두 검출할 수 있다.

    Abstract translation: 本发明涉及一种气溶胶质谱仪,其包括蒸发 - 电子离子发生器和激光离子发生器,该激光离子发生器是包括源装置,保压装置和电离装置的气溶胶质谱仪,所述电离装置包括:蒸发 - 电子离子发生器 包括用于蒸发的蒸发器,其进入到已经进入电离装置的气体,固体或液体气溶胶颗粒中;以及电子枪,设置在浓缩单元的外部以离子化气态气溶胶颗粒; 并且所述激光离子发生器包括设置在所述电离装置的下侧的反射板,以将激光束反射到聚光透镜,以及用于使已经进入所述电离装置的固体或液体气溶胶颗粒气化和电离的所述聚光透镜 通过将激光束集中到电离装置的中心,因此本发明可以通过一个装置检测分子级化学成分,重金属,矿物,耐热成分等全部。

    응축성장을 이용한 공기정화장치

    公开(公告)号:KR1020180115248A

    公开(公告)日:2018-10-22

    申请号:KR1020180122177

    申请日:2018-10-12

    CPC classification number: B01D53/002 B01D5/0033

    Abstract: 본발명은응축성장을이용한공기정화장치를제공한다. 본발명에의한응축성장을이용한공기정화장치는고농도/고유량의조건인 3000~5,500lpm에서운전시, 초미세입자가평균직경 2~5㎛로충분히성장하여 1.0㎛차단직경을가지는관성충돌장치에서제거되어헤파필터나단계별로적용된복잡한필터를적용하지않고도높은효율로공기정화성능을확보할 수있으며습공기를냉각및 과포화시 소비되는전력소모를감소시키며고농도/고유량조건에서도성공적으로성장시켜헤파필터없이 90% 이상의포집효율로제거가능하다.

    급수 중의 콜로이드성 나노입자에 의한 파울링 예측 장치 및 이를 이용한 파울링 예측 방법
    6.
    发明授权

    公开(公告)号:KR101440778B1

    公开(公告)日:2014-09-19

    申请号:KR1020120096640

    申请日:2012-08-31

    Abstract: 본 발명은 파울링 예측 장치 및 이를 이용한 파울링 예측 방법에 관한 것으로, 급수를 여과하는 한외여과(UF)/정밀여과(MF) 막, 여과된 급수를 에어로졸화하는 분무기 장치, 에어로졸화된 콜로이드성 입자들을 확산 건조시키는 장치, 확산 건조된 콜로이드성 입자들을 크기별로 선별/분리하는 미분형 이동도 분석장치(DMA), 크기별로 분리된 콜로이드성 입자들의 개수를 측정하는 응축 입자 계수장치(CPC), 측정된 콜로이드성 입자들의 개수를 연산하여 파울링 지수를 측정하는 파울링 지수 연산장치 및 측정된 파울링 지수에 의하여 파울링 가능성을 측정하는 파울링 판단장치를 포함함으로써, 급수 중에 현탁된 나노입자들의 수 농도와 급수 중에 용해된 나노입자들의 수 농도를 분리하여 정확하게 정량하여 나노입자들에 의한 막 오염(파울링)을 예측할 수 있다.

    중금속 분석방법
    7.
    发明公开
    중금속 분석방법 有权
    重金属分析方法

    公开(公告)号:KR1020110077388A

    公开(公告)日:2011-07-07

    申请号:KR1020090133948

    申请日:2009-12-30

    Inventor: 박기홍 곽지현

    Abstract: PURPOSE: A heavy metal analysis method is provided to easily monitor heavy metal materials while securing analysis accuracy. CONSTITUTION: A heavy metal analysis method includes the following steps. First pulse laser is irradiated to a sample(124) to generate first plasma. Second pulse laser is irradiated to the first plasma before the first plasma becomes extinct to generate second plasma. Light generated from the second plasma is sensed.

    Abstract translation: 目的:提供重金属分析方法,轻松监控重金属材料,同时确保分析精度。 构成:重金属分析方法包括以下步骤。 将第一脉冲激光照射到样品(124)以产生第一等离子体。 在第一等离子体灭绝之前,将第二脉冲激光照射到第一等离子体以产生第二等离子体。 感测从第二等离子体产生的光。

    나노 멤브레인과 에어로졸화 방법을 통한 콜로이드나노입자 측정 기술
    8.
    发明公开
    나노 멤브레인과 에어로졸화 방법을 통한 콜로이드나노입자 측정 기술 有权
    使用NF膜和放射化学方法测定胶体纳米颗粒

    公开(公告)号:KR1020090049706A

    公开(公告)日:2009-05-19

    申请号:KR1020070115926

    申请日:2007-11-14

    Abstract: 본 발명은 나노 멤브레인과 에어로졸화법을 이용하여 급수(feed water) 중의 콜로이드성 나노입자 (현탁된 나노입자 및 용해된 나노입자)의 크기와 수 농도(number concentration)를 실시간으로 측정하는 장치로서, 급수를 한외여과(UF) 및 나노여과(NF)하는 한외여과(UF)/나노여과(NF) 막; 한외여과 및 나노여과된 급수를 공급하는 액체 유입구와 압축된 청정 공기를 공급하는 공기 유입구를 구비하는 분무기 시스템; 분무기 시스템을 통해 에어로졸화된 콜로이드성 입자들을 확산 건조시키는 확산 건조 장치; 확산 건조된 콜로이드성 입자들을 전기 이동도(electrical mobility)에 따라 크기별로 선별/분리하는 미분형 이동도 분석기(DMA); 및 크기별로 분리된 콜로이드성 입자들의 개수를 측정하는 응축 입자 계수기(CPC)를 포함하는 것을 특징으로 하는 장치에 관한 것이다.
    또한, 본 발명은 전술한 장치를 이용하여 급수(feed water) 중의 콜로이드성 나노입자 (현탁된 나노입자 및 용해된 나노입자)의 크기와 수 농도(number concentration)를 실시간으로 측정하는 방법으로서, (a) 한외여과(UF)/나노여과(NF) 막을 통해 여과된 급수와 압축된 청정 공기를 각각 분무기 시스템에 공급하는 단계; (b) 분무기 시스템을 통해 현탁된 나노입자와 용해된 나노입자를 포함하는 액적(droplet)을 일정한 속도로 분무하여 에어로졸화하는 단계; (c) 에어로졸화된 입자들을 확산 건조 장치를 통해 확산 건조시키는 단계; (d) 미분형 이동도 분석기(DMA)를 이용하여, 상기 확산 건조된 콜로이드성 입자들을 전기 이동 도(electrical mobility)에 따라 크기별로 선별/분리하는 단계; 및 (e) 응축 입자 계수기(CPC)를 이용하여, 크기별로 분리된 콜로이드성 입자들의 개수를 측정하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 방법에 관한 것이다.
    본 발명에 따르면, 가스 버블(gas bubble)의 영향도 받지 아니하고 동시성 오류도 없으며 계수상의 오류도 없고 입자의 화학적 성분의 영향도 받지 아니한 채, 급수 중에 함유된 콜로이드성 나노입자들의 수 농도와 크기를 실시간으로 정확하게 측정할 수 있다. 또한, 급수 중에 현탁된 나노입자들의 수 농도와 급수 중에 용해된 나노입자들의 수 농도를 분리하여 정확하게 정량함으로써, 예컨대 칼슘, 마그네슘, 탄소 등이 풍부한 콜로이드성 나노입자들에 의한 막[특히, 역삼투(RO) 막] 오염을 예측할 수 있다.
    콜로이드성 입자, 현탁 입자, 용해 입자, 수 농도(number concentration), 기하 평균 직경(GMD), 한외여과(UF), 나여과(NF), 에어로졸화(aerosolization), 역삼투(RO)막, 오염 지수.

    응축성장을 이용한 공기정화장치

    公开(公告)号:KR101919149B1

    公开(公告)日:2018-11-16

    申请号:KR1020180122177

    申请日:2018-10-12

    Abstract: 본발명은응축성장을이용한공기정화장치를제공한다. 본발명에의한응축성장을이용한공기정화장치는고농도/고유량의조건인 3000~5,500lpm에서운전시, 초미세입자가평균직경 2~5㎛로충분히성장하여 1.0㎛차단직경을가지는관성충돌장치에서제거되어헤파필터나단계별로적용된복잡한필터를적용하지않고도높은효율로공기정화성능을확보할 수있으며습공기를냉각및 과포화시 소비되는전력소모를감소시키며고농도/고유량조건에서도성공적으로성장시켜헤파필터없이 90% 이상의포집효율로제거가능하다.

    연속파 레이저 및 광전증배관을 이용하는 분광분석장치
    10.
    发明授权
    연속파 레이저 및 광전증배관을 이용하는 분광분석장치 有权
    使用连续波激光和光电倍增管的光谱仪

    公开(公告)号:KR101235145B1

    公开(公告)日:2013-02-20

    申请号:KR1020110060040

    申请日:2011-06-21

    Inventor: 박기홍 곽지현

    CPC classification number: G01N21/718

    Abstract: 연속파 레이저 및 광전증배관을 이용하는 분광분석장치가 개시된다. 보다 상세하게는 본 발명은, 도입되는 입자로 연속파 레이저를 조사하는 연속파 레이저 조사부와, 연속파 레이저에 의해 입자에서 발생하는 산란광을 측정하는 산란광 측정부와, 산란광 측정부에서 측정된 측정값이 미리 설정된 값 이상인 경우 트리거링 신호를 발생시키는 트리거링 신호 발생부와, 트리거링 신호를 입력받아 입자로 펄스파 레이저를 조사하는 펄스파 레이저 조사부 및 펄스파 레이저에 의해 입자에서 발생하는 원자 분광선을 측정하여 입자의 원소성분을 분석하는 분광분석부를 포함하는 분광분석장치에 관한 것이다.

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