公开(公告)号：KR1020110107179A

公开(公告)日：2011-09-30

申请号：KR1020100026392

申请日：2010-03-24

Applicant: 광주과학기술원

Inventor： 송우섭 ,  김덕영 ,  문석배

IPC: G01N21/64 ,  G02B21/00 ,  G01N33/483

Abstract: 본 발명의 적어도 일 실시예에 따른 형광 측정 장치 및 방법은, 샘플의 형광 이미지를 획득하고 획득된 형광 이미지가 소정 이미지 면에 결상되도록 형광 빛을 출력하는 형광 현미경에 '그 이미지 면 상의 일정 위치에 말단이 위치한 광섬유', '그 형광 이미지와 광섬유 말단이 특정 위치에 위치함을 동시에 보여주는 이미지 센서' 및 '그 광섬유를 통해 입사된 형광 빛을 이용해 그 샘플의 특정 위치의 형광 정보를 획득하는 광신호 처리부'를 포함함으로써, 샘플의 특정 위치의 형광 정보를 획득할 수 있다. 또한, 본 발명의 적어도 일 실시예에 따르면 상기 형광 측정 장치에 그 소정 이미지 면으로부터 일정 거리만큼 이격된 면인 이격 면에 이미지 센서를 더 구비함으로써, 샘플을 이미지로 모니터링 함과 동시에 그 샘플의 특정 위치에서의 형광 정보를 쉽고 빠르게 얻을 수 있는 것이다.

公开(公告)号：KR101171344B1

公开(公告)日：2012-08-09

申请号：KR1020100026392

申请日：2010-03-24

Applicant: 광주과학기술원

Inventor： 송우섭 ,  김덕영 ,  문석배

IPC: G01N21/64 ,  G02B21/00 ,  G01N33/483

Abstract: 본 발명의 적어도 일 실시예에 따른 형광 측정 장치 및 방법은, 샘플의 형광 이미지를 획득하고 획득된 형광 이미지가 소정 이미지 면에 결상되도록 형광 빛을 출력하는 형광 현미경에 '그 이미지 면 상의 일정 위치에 말단이 위치한 광섬유', '그 형광 이미지와 광섬유 말단이 특정 위치에 위치함을 동시에 보여주는 이미지 센서' 및 '그 광섬유를 통해 입사된 형광 빛을 이용해 그 샘플의 특정 위치의 형광 정보를 획득하는 광신호 처리부'를 포함함으로써, 샘플의 특정 위치의 형광 정보를 획득할 수 있다. 또한, 본 발명의 적어도 일 실시예에 따르면 상기 형광 측정 장치에 그 소정 이미지 면으로부터 일정 거리만큼 이격된 면인 이격 면에 이미지 센서를 더 구비함으로써, 샘플을 이미지로 모니터링 함과 동시에 그 샘플의 특정 위치에서의 형광 정보를 쉽고 빠르게 얻을 수 있는 것이다.