Patent search ap:("국민대학교산학협력단") AND inv:"최정우" Page 1

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发明授权
스케치 기반의 영상표절 검사 방법 및 장치 有权

公开(公告)号：KR102058393B1

公开(公告)日：2019-12-23

申请号：KR1020170163724

申请日：2017-11-30

Applicant: 국민대학교산학협력단

Inventor： 윤상민 , 최정우

IPC: G06F21/64 , G06F21/60 , G06T7/10 , H04L9/06 , G06N3/08

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