公开(公告)号：KR102071505B1

公开(公告)日：2020-01-30

申请号：KR1020180136642

申请日：2018-11-08

Applicant: 국방과학연구소

Inventor： 김양수 ,  남경모

IPC: H01R13/635

公开(公告)号：KR101663219B1

公开(公告)日：2016-10-06

申请号：KR1020160102548

申请日：2016-08-11

Applicant: 국방과학연구소

Inventor： 김양수

IPC: G01R31/28 ,  G01R19/00 ,  G01R15/00 ,  G01R31/08

CPC classification number: G01R31/2848 ,  G01R15/002 ,  G01R19/0084 ,  G01R31/085 ,  G01R31/2841 ,  G01R31/2844

Abstract: 본발명은전기전자회로점검기술에관한것으로서, 더상세하게는구성품간인터페이스신호모사를이용하여전기전자회로를점검하는시스템및 방법에대한것이다. 본발명에따르면, 전기전자회로점검의신속성및/또는신뢰성을향상시킬수 있다.