公开(公告)号：KR101724333B1

公开(公告)日：2017-04-07

申请号：KR1020160017444

申请日：2016-02-15

Applicant: 국방과학연구소

Inventor： 신종화 ,  백승수 ,  김도경 ,  이현민 ,  박귀일 ,  이승준 ,  장태용

IPC: G01R27/26 ,  H01Q1/22 ,  G01N27/22

Abstract: 본원발명은서로대향하는제1 표면및 제2 표면을갖는샘플시편; 및상기샘플시편의유전율을측정하는유전율측정장치;를포함하고, 상기유전율측정장치는, 상기샘플시편을사이에두고서로마주보게배치되어전자파를송수신하는제1 전자파안테나및 제2 전자파안테나; 및상기제1 표면및 제2 표면에서상기전자파로인해발생하는파브리-페로공진주파수(Fabry-Perot resonance frequency)를이용하여유전율을연산하는제어유닛을포함하는파브리-페로공진을이용한유전율측정시스템을제공한다. 본원발명에의하면전자파의파브리-페로공진을이용하여재료의유전율을상온및 고온에서정밀하게측정할수 있다.