Patent search ap:("국방과학연구소") AND inv:"정명원" Page 1

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发明授权
전자파 영향 분석 장치 및 방법 有权

公开(公告)号：KR101953700B1

公开(公告)日：2019-03-04

申请号：KR1020170136935

申请日：2017-10-20

Applicant: 국방과학연구소

Inventor： 정명원 , 이우상 , 최진수 , 백성현

IPC: G01R31/00 , G01R29/08 , B64C39/02

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