기동 플랫폼 탑재 어레이의 빔 안정화 방법
    1.
    发明授权
    기동 플랫폼 탑재 어레이의 빔 안정화 방법 有权
    用于移动平台上的阵列的波束稳定方法

    公开(公告)号:KR101475238B1

    公开(公告)日:2014-12-22

    申请号:KR1020130109933

    申请日:2013-09-12

    Abstract: 본 발명은 플랫폼의 움직임을 보상하여 안정화된 빔을 생성할 수 있는 기동 플랫폼 탑재 어레이의 빔 안정화 방법에 관한 것으로, 어레이 타입 및 스테이브의 구성이 설정되면 스테이브내의 기준 센서의 위치를 생성하고, 플랫폼의 운동(롤, 피치) 정보에 따라 기준 센서의 보상위치를 산출하여, 상기 산출된 기준센서의 보상위치와 입력된 수평 및 수직 지향정보를 이용하여 플랫폼의 움직임이 보상된 빔 패턴을 생성하여 출력한다.

    Abstract translation: 本发明涉及一种用于稳定配备有启动平台的阵列的光束的方法,其能够通过补偿平台的移动来产生稳定的光束。 本发明的方法包括以下步骤:如果设置了台阶的阵列类型和构造,则在梯形板中产生参考传感器的位置; 根据平台的移动(滚动,俯仰)信息计算参考传感器的补偿位置; 并且使用所计算的参考传感器的补偿位置和输入的水平和垂直取向信息来生成和输出其中平台的移动被补偿的波束图案。

    지연 합 빔포밍의 후처리 필터링 방법 및 이를 위한 기록매체

    公开(公告)号:KR1020210002939A

    公开(公告)日:2021-01-11

    申请号:KR1020190078834

    申请日:2019-07-01

    Inventor: 홍정표 조점군

    Abstract: 일실시예에따른지연합 빔포밍의후처리필터링방법은, 원통형또는원형으로배열된복수의센서에의해감지되는신호의주파수별빔 패턴을획득하는단계; 상기빔 패턴을이용하여빔-주파수영역에서상기신호를위한신호마스크및 잡음마스크를생성하는단계; 및상기신호의지연합 빔포밍출력에상기신호마스크및 상기잡음마스크를적용하여후처리필터링을수행하는단계를포함한다.

    지연 합 빔포밍의 후처리 필터링 방법 및 이를 위한 기록매체

    公开(公告)号:KR102203748B1

    公开(公告)日:2021-01-15

    申请号:KR1020190078834

    申请日:2019-07-01

    Inventor: 홍정표 조점군

    Abstract: 일실시예에따른지연합 빔포밍의후처리필터링방법은, 원통형또는원형으로배열된복수의센서에의해감지되는신호의주파수별빔 패턴을획득하는단계; 상기빔 패턴을이용하여빔-주파수영역에서상기신호를위한신호마스크및 잡음마스크를생성하는단계; 및상기신호의지연합 빔포밍출력에상기신호마스크및 상기잡음마스크를적용하여후처리필터링을수행하는단계를포함한다.

    어레이 설계 및 센서 고장에 따른 어레이 성능 분석방법
    4.
    发明授权
    어레이 설계 및 센서 고장에 따른 어레이 성능 분석방법 有权
    传感器故障的阵列设计和阵列性能分析方法

    公开(公告)号:KR101489673B1

    公开(公告)日:2015-02-04

    申请号:KR1020130109934

    申请日:2013-09-12

    CPC classification number: G08B21/187 G05B23/0267

    Abstract: 본 발명은 어레이 설계 및 센서 고장시 어레이 성능을 분석하여 이를 정량적으로 표시할 수 있는 어레이의 성능분석 방법에 관한 것으로, 어레이 설정화면에서 어레이 설계정보, 센서위치 조정 정보 및 고장 센서 정보가 설정되면, 상기 정보가 반영된 소정 형상의 어레이를 생성하고 센서위치 조정 정보에 따라 어레이에서 장착된 해당 센서의 위치를 조정한 후 상기 생성된 어레이, 조정된 센서 위치 및 설정된 고장센서에 따른 빔 패턴을 생성하고, 상기 생성된 빔 패턴을 분석하여 어레이 설계 또는 센서 고장에 따른 성능(빔 패턴, 빔 폭 및 지향 지수) 변화를 성능 분석화면에 성능 참조선과 함께 정량적으로 표시한다.

    Abstract translation: 本发明涉及阵列性能分析方法,其可以分析阵列设计和传感器故障时的阵列性能,并定量显示分析结果。 本发明如果阵列设计信息,传感器位置调整信息和故障传感器信息被设置在阵列设置屏幕上,则生成具有反映信息的设定形状的阵列; 根据传感器位置调整信息调整阵列中相应安装的传感器的位置,然后根据生成的阵列,调整的传感器位置和设定的故障传感器产生光束图案; 并且根据阵列设计或性能分析屏幕上的性能参考线的传感器故障来分析所产生的波束图案并定量显示性能(波束图案和取向指数)变化。

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