公开(公告)号：KR20180032028A

公开(公告)日：2018-03-29

申请号：KR20160120668

申请日：2016-09-21

Applicant: 나노씨엠에스(주)

Inventor： 이성욱 ,  이현진 ,  김시두 ,  김정배

IPC: G01N21/88 ,  G01N21/956 ,  G02B19/00

CPC classification number: G01N21/8806 ,  G01N21/956 ,  G02B19/0014

Abstract: 본발명은반사판의집광정밀도측정장치에관한것으로, 태양광발전이나전파수신용으로사용되는접시형태의집광용반사판에레이저광을조사한후 반사되는광선이집광면에모이는광점의분포를통해, 반사판의집광정밀도, 초점거리및 곡률반경을확인함으로써, 반사판의제작과정에서발생될수 있는흠집이나변형등에의해불량이발생한부분을정확하게파악하여보완할수 있도록하는반사판의집광정밀도측정장치를개시한다.

Abstract translation: 本发明通过如，太阳能发电或电波能够调查在光的光分布的反射点中使用的类型的板的信用激光聚光反射板聚集在聚焦表面上为约会聚精度用于反射器测量装置，所述反射器 通过检查，焦距和曲率半径的收敛精确度，它公开了一种高精度的聚光反射镜测量装置是互补的，以准确地识别缺陷部分的出现归因于所用的反射板的划痕和变形的生产过程中产生的。

公开(公告)号：KR101891581B1

公开(公告)日：2018-08-27

申请号：KR1020160120668

申请日：2016-09-21

Applicant: 나노씨엠에스(주)

Inventor： 이성욱 ,  이현진 ,  김시두 ,  김정배

IPC: G01N21/88 ,  G02B19/00 ,  G01N21/956

Abstract: 본발명은반사판의집광정밀도측정장치에관한것으로, 태양광발전이나전파수신용으로사용되는접시형태의집광용반사판에레이저광을조사한후 반사되는광선이집광면에모이는광점의분포를통해, 반사판의집광정밀도, 초점거리및 곡률반경을확인함으로써, 반사판의제작과정에서발생될수 있는흠집이나변형등에의해불량이발생한부분을정확하게파악하여보완할수 있도록하는반사판의집광정밀도측정장치를개시한다.