公开(公告)号：KR200279475Y1

公开(公告)日：2002-06-24

申请号：KR2020020008589

申请日：2002-03-22

Applicant: 대우전자주식회사

Inventor： 장석원 ,  이학주 ,  함선일

IPC: G01B11/24

Abstract: 본 고안은 스트레인 게이지의 구조에 관한 것으로서, 게이지 본체를 지속적으로 사용할 수 있도록 한 것이다.
본 고안은 외부의 제어기(미도시)와 연결되어 각종 신호가 송수신되는 게이지 본체(10)와, 상기 게이지 본체(10)의 중심에 형성되어 특정 영상 신호를 획득함으로써 측정물체(s)의 변동이 검출되게 하는 감지기(CCD)(13)와, 상기 감지기(13)의 주위에 형성되어 광원인 레이저 빔이 조사되는 광원체(15)와, 상기 게이지 본체(10)에 형성되어 게이지 본체(10)가 적정 높이로 입설되도록 하는 다리(17)와, 상기 다리(17)의 단부에 일체로 형성되어 측정물체(s)인 철구조물에 부착되는 마그네틱(19)으로 구성되는 것이다.

公开(公告)号：KR1020030075968A

公开(公告)日：2003-09-26

申请号：KR1020020015578

申请日：2002-03-22

Applicant: 대우전자주식회사

Inventor： 장석원 ,  함선일

IPC: G01B11/16

Abstract: PURPOSE: A measuring apparatus for transmission and vibration of a rotator in an ESPI(Electronic Speckle Pattern Interferometry) is provided to measure transformation and vibration of the rotator by getting the number of vibration and strain in a rotating object. CONSTITUTION: An encoder(111) rotates a testing object(105) and controls the number of rotation. A controller(112) is installed to an opposite site of the encoder. The controller operates a rotary prism device(120) identical to the number of rotation of the encoder. The rotary prism device comprises a beam split(106), a prism(107), an actuator(110), an aperture(108) and a lens(109). The beam split is installed to an entrance of a side. The prism is installed to a rear portion of the beam split. The actuator is connected to a rear portion of the prism. The aperture and the lens are installed to project an interference speckle image to a CCD(Charge Coupled Device). Thereby, vibration and strain of the testing object rotating in high-speed are measured by using an ESPI(Electronic Speckle Pattern Interferometry).

Abstract translation: 目的：提供用于ESPI（电子斑纹图案干​​涉测量）中的旋转体的传播和振动的测量装置，以通过获得旋转物体中的振动和应变的数量来测量旋转体的变换和振动。 构成：编码器（111）旋转测试对象（105）并控制旋转次数。 控制器（112）安装到编码器的相对位置。 控制器操作与编码器的旋转数相同的旋转棱镜装置（120）。 旋转棱镜装置包括光束分离（106），棱镜（107），致动器（110），孔（108）和透镜（109）。 光束分裂安装在一侧的入口处。 棱镜安装在光束分割的后部。 致动器连接到棱镜的后部。 安装光圈和透镜以将干涉斑点图像投影到CCD（电荷耦合器件）。 因此，通过使用ESPI（Electronic Speckle Pattern Interferometry）测量高速旋转的测试对象的振动和应变。