公开(公告)号：KR101447612B1

公开(公告)日：2014-10-13

申请号：KR1020120138787

申请日：2012-12-03

Applicant: 마산대학교산학협력단

Inventor： 문상필 ,  황정원 ,  안향 ,  정태경 ,  박우정 ,  정준영 ,  김상훈 ,  김종화 ,  이동현

IPC: G01R27/00 ,  G01R27/26 ,  G01R19/00 ,  G01R31/02

Abstract: 본 발명은 피측정기기인 저항측정기, 커패시터 측정기, 전류측정기, 전압측정기, LED판별부양기, 트랜지스터 극성판별측정, 브레드보드를 선택적으로 테스트하는 멀티 디바이스 테스터의 구성에 있어서, 상기 피측정기기의 종류에 따라서 결정되는 테스트 모드를 설정하는 설정부와; 상기 설정부에 의해서 설정된 테스트 모드에 공급하는 전원 공급부와; 상기 피측정기기로 부터 측정된 값을 디지털 신호로 변환하는 어댑터와; 상기 피측정기기를 측정을 위해서 위치시키는 측정보드와; 상기 설정부에 의하여 설정된 테스트 모드를 입력받아 상기 전원 공급부에 의하여 공급되는 전원에 의하여, 상기 테스트 모드가 상기 저항을 테스트하는 모드인 경우 상기 전원 공급부의 전원에 반응하여 출력하는 상기 저항측정기의 신호를 입력받아 상기 기준값과 비교한 후 차이값을 산출하고 산출된 차이값에 따라 상기 저항값을 평가하고, 상기 테스트 모드가 상기 커패시터를 테스트하는 모드인 경우 상기 전원 공급부의 전원에 반응하여 출력하는 상기 커패시터 측정기의 신호를 입력받아 상기 기준값과 비교한 후 차이값을 산출하고 산출된 차이값에 따라 상기 커패시터값을 평가하고, 상기 테스트 모드가 상기 전류를 테스트하는 모드인 경우 상기 전원 공급부의 전원에 반응하여 출력하는 상기 전류 측정기의 신호를 입력받아 상기 기준값과 비교한 후 차이값을 산출하고 산출된 차이값에 따라 상기 전류값을 평가하고, 상기 테스트 모드가 상기 전압을 테스트하는 모드인 경우 상기 전원 공급부의 전원에 반응하여 출력하는 상기 전압 측정기의 신호를 입력받아 상기 기준값과 비교한 후 차이값을 산출하고 산출된 차이값에 따라 상기 전압값을 평가하고, 상기 테스트 모드가 상기 LED극성을 테스트하는 모드인 경우 상기 전원 공급부의 전원에 반응하여 출력하는 상기 LED극성 측정기의 신호를 입력받아 상기 기준값과 비교한 후 차이값을 산출하고 산출된 차이값에 따라 상기 LED극성을 평가하고, 상기 테스트 모드가 상기 브레드보드의 회로구성여부를 테스트하는 모드인 경우 상기 전원 공급부의 전원에 반응하여 출력하는 상기 브레드보드의 신호를 입력받아 상기 기준값과 비교한 후 차이값을 산출하고 산출된 차이값에 따라 상기 브레드보드의 회로구성여부를 평가하여서, 상기 측정보드에서 측정된 측정값을 연산하는 연산부와; 상기 연산부에서 연산된 결과를 외부로 도출하는 LCD 플레이부;를 포함하는 것을 특징으로 한다.

公开(公告)号：KR1020140072347A

公开(公告)日：2014-06-13

申请号：KR1020120138787

申请日：2012-12-03

Applicant: 마산대학교산학협력단

Inventor： 문상필 ,  황정원 ,  안향 ,  정태경 ,  박우정 ,  정준영 ,  김상훈 ,  김종화 ,  이동현

IPC: G01R27/00 ,  G01R27/26 ,  G01R19/00 ,  G01R31/02

Abstract: The present invention relates to an educational multi-device tester and, more specifically, to a multi-device tester of determining the normal operation of different electronic devices such as a resistance meter, a capacitance meter, an LED determination unit, a transistor polarity determination meter, a current meter, a voltage meter, and a breadboard by one system. The multi-device tester by the present invention can measure current, voltage, resistance, the capacity of a capacitor, the polarity of a diode, the polarity of the LED determination unit, the polarity of a transistor, the resistance of the breadboard, and capacitance at once.

Abstract translation: 本发明涉及一种教育性多器件测试器，更具体地说，涉及一种用于确定诸如电阻计，电容计，LED确定单元，晶体管极性判定之类的不同电子器件的正常操作的多器件测试器 仪表，电流表，电压表和面包板。 本发明的多器件测试器可以测量电流，电压，电阻，电容器的容量，二极管的极性，LED确定单元的极性，晶体管的极性，面包板的电阻和 一次电容。