公开(公告)号：KR101458306B1

公开(公告)日：2014-11-06

申请号：KR1020130052933

申请日：2013-05-10

Applicant: 목포대학교산학협력단

Inventor： 한만수 ,  나철훈 ,  강성준

IPC: H04B10/25

Abstract: 패시브 옵티컬 네트워크 시스템의 동적 폴링 방법 및 장치를 개시한다. 일 실시예에 따른 옵티컬 네트워크 시스템에서 종단 장치의 동적 폴링 방법은, 동적 대역 요청 스트림(DBRu; dynamic bandwidth request upstream)을 수신하는 단계와, 상기 DBRu에 기초하여 복수의 전송 컨테이너(T-CONT; transmission container)들 각각의 패킷 대기 수를 저장하는 단계 및 상기 패킷 대기 수와 임계값에 기초하여 매 프레임 시간마다 상기 복수의 T-CONT들 각각에 대한 DBRu 전송허가 여부를 결정하는 단계를 포함한다.

Abstract translation: 公开了一种用于无源光网络系统中的动态轮询的方法和装置。 根据本发明的实施例，光网络系统中终端设备的动态轮询方法包括以下步骤：接收上游的动态带宽请求（DBRu）; 基于DBRu存储多个传输容器（T-CONT）中的每一个的备用数据包的数量; 以及基于所述备用分组的数量和所述阈值，确定是否在每帧时间内为所述多个T-CONT中的每一个发送所述DBRu。

公开(公告)号：KR1020160103816A

公开(公告)日：2016-09-02

申请号：KR1020150026668

申请日：2015-02-25

Applicant: 목포대학교산학협력단

Inventor： 강성준 ,  방걸원

IPC: G08C17/02 ,  H01L23/488 ,  G01K13/00 ,  G01K7/02 ,  G01K7/18 ,  G01K7/22 ,  G01K7/30 ,  G01K7/36 ,  G01J5/00

CPC classification number: G08C17/02 ,  G01J5/00 ,  G01K7/02 ,  G01K7/18 ,  G01K7/22 ,  G01K7/30 ,  G01K7/36 ,  G01K13/00 ,  H01L23/488

Abstract: 본발명의일 실시예에따른온도획득부, 저장부, 통신부를포함하는리플로우용무선프로파일러에관한것이다. 본발명의본 발명에따른제어명령실행장치를사용하면, 리플로우용무선프로파일러는방열및 방수기능을갖는하우징내에수용되어리플로우단계에서온도데이터를실시간으로획득하여안정적인생산관리가가능하기때문에불량을획기적으로감소시켜품질향상극대화할수 있다. 또한, 무선통신으로외부디바이스로전송할수 있다.

Abstract translation: 根据本发明的实施例，公开了一种用于回流的无线轮廓仪，包括温度获取单元，存储单元和通信单元。 根据本发明，如果使用控制命令执行装置，则将具有散热功能和防水功能的壳体中的回流用无线轮廓仪容纳在回流步骤中实时获得温度数据，以使稳定 生产管理，从而通过大幅度减少缺陷来最大限度地提高质量。 此外，所获得的温度数据可以通过无线通信传输到外部设备。

公开(公告)号：KR101281624B1

公开(公告)日：2013-07-03

申请号：KR1020110063739

申请日：2011-06-29

Applicant: 목포대학교산학협력단

Inventor： 강성준

IPC: G01B11/24 ,  G01N21/25

Abstract: 본 발명은 산업 재료의 재질 특성 분야에 활용하기 위하여 산업 재료의 표면 밑 단층 구조를 영상화하는 영상화 방법 및 영상화 장치에 관한 것으로, 보다 상세하게는 경제적이고 비파괴적 방법으로 재료의 표면 밑 구조를 분석할 수 있어 재질 분석 시스템의 산업 분야 발전과 은닉 구조 검출과 같은 보안 분야에 기여하기 위하여 산업 재료의 표면 밑 구조를 영상화할 수 있는 영상화 방법 및 영상화 장치를 제공하는데 그 목적이 있다. 상기 목적을 달성하기 위한 본 발명은 입사광의 파장을 변화시키면서 분석 대상의 재료에 입사시키고; 분석 대상의 재료에서 반사되어 나오는 반사광의 영상을 취득하고; 취득된 반사광의 영상을 2차원화하여 분석 결과를 도출하며; 처리된 분석 결과의 2차원적인 형상의 영상을 디스플레이하는 재료의 표면 밑 구조를 영상화하는 영상화 방법을 제공하며, 소정 파장을 갖는 광을 입사하는 입력광 발생수단; 표면 밑 구조를 영상화할 샘플이 위치되고 평면적으로 이동가능하게 구비되는 샘플지지수단; 상기 샘플지지 수단을 2차원적으로 이동시키는 구동제어 수단; 상기 샘플에 반사되어 나오는 반사광의 영상을 취득하는 영상 취득 수단; 취득된 영상을 처리하는 영상 처리 수단; 및 처리된 영상을 외부로 출력 표시하는 영상출력 수단 을 포함하는 재료의 표면 밑 구조를 영상화하는 영상화 장치를 제공한다.

公开(公告)号：KR1020130002653A

公开(公告)日：2013-01-08

申请号：KR1020110063739

申请日：2011-06-29

Applicant: 목포대학교산학협력단

Inventor： 강성준

IPC: G01B11/24 ,  G01N21/25

Abstract: PURPOSE: An imaging method capable of imaging a subsurface structure of an industrial material of nano scale depth and an imaging device are provided to enable to analyze a subsurface structure of an industrial material by an economical and non-destructive method, thereby contributing to a development and the concealment structure detection of a material analyzing system. CONSTITUTION: An imaging method capable of imaging a subsurface structure of an industrial material of nano scale depth comprises next steps. Incident rays having different frequencies are incident to a material of an analysis object(S1). An object supporting member in which the analysis object is positioned is moved for two-dimensionally scanning along a surface of the object(S5). Images of lights reflected by the object material are obtained(S2). The images of the obtained reflecting lights are two-dimensionally dimensionalized and an analysis result is drawn(S3). Images of a two-dimensional shape of the processed analysis result are output and displayed(S4). [Reference numerals] (S1) Injecting incident rays to an analysis object material; (S2) Obtaining images of reflected lights; (S3) Processing the images into two-dimensional images and drawing an analysis result; (S4) Outputting/displaying the processed two-dimensional images; (S5) Moving the analysis object material

Abstract translation: 目的：提供一种能够对纳米级深度工业材料的地下结构进行成像和成像装置的成像方法，以便通过经济和非破坏性方法分析工业材料的地下结构，从而有助于发展 以及材料分析系统的隐藏结构检测。 构成：能够对纳米尺度深度的工业材料的地下结构进行成像的成像方法包括以下步骤。 具有不同频率的入射光线入射到分析对象的材料（S1）。 移动分析对象所在的物体支撑构件沿着物体的表面进行二维扫描（S5）。 获得由物体材料反射的光的图像（S2）。 所获得的反射光的图像是二维尺寸的，并且绘制分析结果（S3）。 输出并显示经处理的分析结果的二维形状的图像（S4）。 （附图标记）（S1）将入射光线注入分析对象物质; （S2）获取反射光的图像; （S3）将图像处理成二维图像并绘制分析结果; （S4）输出/显示经处理的二维图像; （S5）移动分析对象素材

公开(公告)号：KR1020030091100A

公开(公告)日：2003-12-03

申请号：KR1020020028512

申请日：2002-05-22

Applicant: 목포대학교산학협력단

Inventor： 강성준

IPC: G01N21/35

Abstract: PURPOSE: An apparatus and a method for inspecting uniformity of a thin film are provided to simply check spatial unevenness of the thin film by using an infrared transmission imaging technique. CONSTITUTION: An apparatus for inspecting uniformity of a thin film includes a controller(1) for controlling intensity of light, a light generating device(2) for generating infrared ray, a light distributing device(3) for distributing light in such a manner that light is uniformly distributed on a sample(4), a camera(5) for collecting infrared ray, which has passed through the sample(4), and a processing device(6) for converting an analog image signal into a digital image signal. A first image is obtained by positioning a substrate at a position corresponding to a sample position. A second image is obtained by positioning the substrate, on which a thin film is deposited, in the position corresponding to the sample position.

Abstract translation: 目的：提供一种用于检查薄膜均匀性的装置和方法，以通过使用红外透射成像技术简单地检查薄膜的空间不均匀性。 构成：用于检查薄膜均匀性的装置包括用于控制光强度的控制器（1），用于产生红外线的光产生装置（2），用于分配光的光分配装置（3） 光均匀地分布在已经通过样品（4）的样品（4），用于收集红外线的照相机（5）和用于将模拟图像信号转换为数字图像信号的处理装置（6）中。 通过将基板定位在与样品位置对应的位置处获得第一图像。 通过将沉积有薄膜的基板定位在与样品位置相对应的位置来获得第二图像。