표적 물질의 검출 또는 정량 방법, 및 키트
    1.
    发明申请
    표적 물질의 검출 또는 정량 방법, 및 키트 审中-公开
    用于检测或定量目标材料的方法和工具包

    公开(公告)号:WO2014014309A1

    公开(公告)日:2014-01-23

    申请号:PCT/KR2013/006484

    申请日:2013-07-19

    CPC classification number: G01N33/587

    Abstract: 본 발명은 시료 내 표적 물질을 검출 또는 정량하는 새로운 방법, 및 키트를 제공한다. 또한 본 발명은 질병표지물질을 검출하는 센서를 제공한다. 시료에 제 1 프로브가 결합된 금속 나노 입자 및 제 2 프로브가 결합된 양자점을 첨가하여 배양하는 배양 단계를 포함하고, 상기 제 1 프로브 및 제 2 프로브는 표적 물질과 결합하지만 서로 결합하지 않고 제 1 프로브 및 제 2 프로브 모두가 표적 물질과 결합하는 경우 양자점의 형광강도가 강화되므로 검출의 정확도 및 신속도를 향상시켜주는 효과가 있다.

    Abstract translation: 本发明提供了用于检测或定量样品中的目标材料的新颖方法和试剂盒。 此外,本发明提供了一种用于检测疾病示踪剂的传感器。 该方法包括将第一探针组合的金属纳米粒子和第二探针组合的量子点加入样品进行培养的培养步骤,第一探针和第二探针与目标物质结合,但不结合每个 其他。 当第一探针和第二探针都与目标材料结合时,量子点的荧光强度增强,从而提高检测的精度和快速性。

    표적 물질의 검출 또는 정량 방법, 및 키트
    2.
    发明公开
    표적 물질의 검출 또는 정량 방법, 및 키트 审中-实审
    用于检测或定量目标材料的方法和工具包

    公开(公告)号:KR1020150064026A

    公开(公告)日:2015-06-10

    申请号:KR1020157006525

    申请日:2013-07-19

    CPC classification number: G01N33/587

    Abstract: 본발명은시료내 표적물질을검출또는정량하는새로운방법, 및키트를제공한다. 또한본 발명은질병표지물질을검출하는센서를제공한다. 시료에제 1 프로브가결합된금속나노입자및 제 2 프로브가결합된양자점을첨가하여배양하는배양단계를포함하고, 상기제 1 프로브및 제 2 프로브는표적물질과결합하지만서로결합하지않고제 1 프로브및 제 2 프로브모두가표적물질과결합하는경우양자점의형광강도가강화되므로검출의정확도및 신속도를향상시켜주는효과가있다.

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